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Dado oficial do INPI

MÉTODO E EQUIPAMENTO DE POSICIONAMENTO AUTOMÁTICO PARA MICROSCOPIA POR VARREDURA DE SONDA E ESPECTROSCOPIA ÓPTICA IN SITU

Em AnálisePatente de Invenção

Dados do pedido

Patente de Invenção MÉTODO E EQUIPAMENTO DE POSICIONAMENTO AUTOMÁTICO PARA MICROSCOPIA POR VARREDURA DE SONDA E ESPECTROSCOPIA ÓPTICA IN SITU de IVISION SISTEMAS DE IMAGEM E VISÃO S.A — IPC G01J 3/44
Patente de Invenção MÉTODO E EQUIPAMENTO DE POSICIONAMENTO AUTOMÁTICO PARA MICROSCOPIA POR VARREDURA DE SONDA E ESPECTROSCOPIA ÓPTICA IN SITU de IVISION SISTEMAS DE IMAGEM E VISÃO S.A — IPC G01J 3/44. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

102015011233

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

15/05/2015

Publicação

05/06/2018

Andamento no INPI

  1. Depósito15/05/15
  2. Publicação05/06/18
  3. Exame
  4. Deferimento21/12/21
  5. Concessão15/03/22
  6. Em vigor15/05/35

Patente concedida em 15/03/2022 e em vigor até 15/05/2035. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:15/05/2035

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Última movimentação publicada pelo INPI: 14/06/2022. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

IVISION SISTEMAS DE IMAGEM E VISÃO S.A

MG, BR

U. G. (pessoa física)

MG, BR

Inventores

A. V. (pessoa física)

BR

C. S. (pessoa física)

BR

H. M. (pessoa física)

BR

J. N. (pessoa física)

BR

L. A. (pessoa física)

BR

L. E. (pessoa física)

BR

L. C. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Resumo técnico

O presente pedido de patente descreve um método e um equipamento capazes de posicionar automaticamente uma sonda usada para procedimentos de microscopia de varredura por sonda (do inglês, Scanning Probe Microscopy ou SPM), incluindo seu acoplamento com sistemas ópticos, como em microscopia óptica de campo próximo (do inglês Scanning Near-field Optical Microscopy ou SNOM) ou espectroscopia Raman por efeito de sonda (do inglês Tip Enhanced Raman Spectroscopy ou TERS), que exigem que a mesma seja precisamente posicionada e manipulada. O método e equipamento propostos baseiam-se em recursos de visão computacional e de controle de posicionamento em malha fechada utilizando-se a retroalimentação visual. Experimentos de SPM, SNOM e TERS são úteis em indústrias de manufatura de precisão, microeletrônica e biomédica, dentre outras áreas de ciência e tecnologia em que tal monitmamento resulta em uma melhora de qualidade e confiabilidade dos produtos.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Transferência deferida

#25.1

14/06/2022

RPI 2684

Transferência em exigência

#25.3

A fim de atender a transferência de parte dos direitos, requerida através da petição nº 870210073031 de 10/08/2021, é necessário apresentar documento que comprove que o representante da cedente tem poderes para realizar tal ato. Além disso, é preciso apresentar a guia de cumprimento de exigência.

22/03/2022

RPI 2672

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 15/05/2015, observadas as condições legais

15/03/2022

RPI 2671

Deferimento

#9.1

21/12/2021

RPI 2659

Exigência preliminar (variante)

#6.22

15/12/2020

RPI 2606

Publicação do pedido de patente

#3.1

05/06/2018

RPI 2474

Pedido de patente depositado

#2.1

08/05/2018

RPI 2470

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '014150000760' em 15/05/2015 15:47 (MG)

24/04/2018

RPI 2468

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