Concessão da patente
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 28/08/2014, observadas as condições legais
25/10/2022
RPI 2703
Dados do pedido
Número
102014021296Tipo
Depósito
Publicação
Patente concedida em 25/10/2022 e em vigor até 28/08/2034. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.
Proteção válida até:28/08/2034
Última movimentação publicada pelo INPI: 25/10/2022. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
CENTRO NACIONAL DE TECNOLOGIA ELETRÔNICA AVANÇADA S.A.
RS, BR
Inventores
A. O. (pessoa física)
BR
A. O. (pessoa física)
BR
D. F. (pessoa física)
BR
E. C. (pessoa física)
BR
J. J. (pessoa física)
BR
M. L. (pessoa física)
BR
S. C. (pessoa física)
BR
Classificação IPC
Resumo técnico
RESUMOMECANISMO E INTERFACE DE ACESSO PARA TESTE ESTRUTURAL E FUNCIONAL DE CIRCUITOS INTEGRADOS MISTOS E PROCESSOS DE TESTE ESTRUTURAL E FUNCIONAL DE CIRCUITOS INTEGRADOS MISTOS A presente invenção pertence ao setor tecnológico de microeletrônica e refere-se, mais especificamente, à área de teste de circuitos integrados. De modo geral, a presente invenção possibilita a realização de testes estruturais e funcionais de circuitos integrados mistos (analógicos e digitais) através de uma interface de apenas três pinos. A solução proposta permite trafegarem tanto sinais mistos (analógicos e/ou digitais), como apenas digitais. São ainda propostos pela invenção processos de teste estrutural e funcional de circuitos integrados mistos.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 28/08/2014, observadas as condições legais
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#3.1
19/04/2016
RPI 2363
#2.1
29/10/2014
RPI 2286
#2.10
Número de Protocolo 860140145740 em 28/08/2014 12:40(WB).
09/09/2014
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