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Dado oficial do INPI

MÉTODO PARA CARACTERIZAR AUTOMATICAMENTE UM ECO CONTIDO EM UM SINAL ULTRASSÔNICO, E SISTEMA PARA CARACTERIZAR AUTOMATICAMENTE UM ECO CONTIDO EM UM SINAL ULTRASSÔNICO

ArquivadaPatente de Invenção

Dados do pedido

Número

102014001496

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

22/01/2014

Publicação

17/11/2015

Andamento no INPI

  1. Depósito22/01/14
  2. Publicação17/11/15
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 22/01/2014, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 30/05/2017. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

SCHLUMBERGER TECHNOLOGY B.V.

NL

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Inventores

A. P. (pessoa física)

JP

H. V. (pessoa física)

JP

T. F. (pessoa física)

JP

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

13/943,791 · 17/07/2013

US

61/755,367 · 22/01/2013

Resumo técnico

MÉTODO PARA CARACTERIZAR AUTOMATICAMENTE UM ECO CONTIDO EM UM SINAL ULTRASSÔNICO, E SISTEMA PARA CARACTERIZAR AUTOMATICAMENTE UM ECO CONTIDO EM UM SINAL ULTRASSÔNICO. Um método de exemplo para caracterizar automaticamente um eco contido em um sinal ultrassônico gerado com um transdutor ultrassônico pode incluir receber dados correspondendo ao sinal ultrassônico, calcular uma razão de energia do sinal ultrassônico e localizar o eco utilizando a razão de energia. 0 método pode incluir enquadrar uma porção do sinal ultrassônico em torno do eco localizado e calcular uma Transformada Fourier Rápida (FFT) e um envelope Hilbert da porção enquadrada. 0 método pode incluir estimar M parâmetros de eco a partir da FFT e envelope Hilbert da porção enquadrada, onde cada dos M vetores de parâmetro inclui uma pluralidade de parâmetros de eco, calcular M modelos de eco de parâmetro com base em cada dos M vetores de parâmetro de eco e iterativamente minimizar uma diferença entre a porção enquadrada do sinal ultrassônico e uma soma dos M modelos de eco paramétricos.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

30/05/2017

RPI 2421

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

14/03/2017

RPI 2410

Publicação do pedido de patente

#3.1

17/11/2015

RPI 2341

Pedido de patente depositado

#2.1

13/10/2015

RPI 2336

Exigência - art. 21 da LPI

#2.5

07/10/2014

RPI 2283

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo 20140002598 em 22/01/2014 01:46(RJ).

25/02/2014

RPI 2251

Monitoramento de patentes

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