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Dado oficial do INPI

SISTEMA DE VARREDURA PARA DETECÇÃO DE DEFEITOS EM SUPERFÍCIES PLANAS DE PLACAS CONFECCIONADAS EM MATERIAL TRANSLÚCIDO E EQUIPAMENTO PARA DETECÇÃO AUTOMÁTICA DE DEFEITOS

Arquivada/ExtintaPatente de Invenção

Dados do pedido

Número

102013003449

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

14/02/2013

Publicação

14/10/2014

Andamento no INPI

  1. Depósito14/02/13
  2. Publicação14/10/14
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 26/03/2019. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

A. C. (pessoa física)

SP, BR

M. L. (pessoa física)

SP, BR

Inventores

A. C. (pessoa física)

BR

M. L. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

SISTEMA DE VARREDURA PARA DETECÇAO DE DEFEITOS EM SUPERFíCIES PLANAS DE PLACAS CONFECCIONADAS EM MATERIAL TRANSLUCIDO E EQUIPAMENTO PARA DETECÇAO AUTOMATICA DE DEFEITOS, mais precisamente trata-se desistema de varredura (SV) e equipamento (1) para detecção automática de defeitos em placas translúcidas (PL) do tipo vidro, policarbonato, acrilico, entre outros, de forma a detectar defeitos pontuais (df) nas superfícies planas (si) de placas (PL), tais como de vidro, policarbonato, acrílico ou outras; o sistema de varredura (SV) e equipamento de detecção (1) são formados por cinco componentes básicos que se integram e se completam, quais sejam: i) câmera de vídeo digital (2) para captação das imagens (IMG) ; ii) dispositivo de iluminação (3) para detecção de defeitos; iii) sistema de varredura (SV) que divide a placa translúcida (PL) em pequenas áreas de captura, denominadas quadrículos (qi); iv) processamento de imagem (Psi); v) programa ou 'software' de controle de processo (PC); ditos componentes realizam, de forma automática, a identificação da posição e dimensão da placa (PL) , bem como inicia, também de forma automática, a varredura da superfície (si) da placa (PL) comparando possíveis defeitos (df) com parámetros previstos em tabelas (EP) ou com especificações fornecidas pelo fabricante e pelo perfil de cada cliente, obtendose num relatório final (Pf)

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Em virtude do arquivamento publicado na RPI 2501 de 11-12-2018 e considerando ausência de manifestação dentro dos prazos legais, informo que cabe ser mantido o arquivamento do pedido de patente, conforme o disposto no artigo 12, da resolução 113/2013.

26/03/2019

RPI 2516

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 6ª anuidade.

11/12/2018

RPI 2501

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

04/12/2018

RPI 2500

Publicação do pedido de patente

#3.1

14/10/2014

RPI 2284

Pedido de patente depositado

#2.1

23/07/2013

RPI 2220

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo 18130004551 em 14/02/2013 03:43(SP).

26/03/2013

RPI 2203

Monitoramento de patentes

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