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Dado oficial do INPI

MÉTODO ALTERNATIVO PARA OBTENÇÃO DO COEFICIENTE DE TEMPERATURA DA FREQUENCIA RESSONANTE NA REGIÃO DE MICRO-ONDAS(tf)

ConcedidaPatente de Invenção

Dados do pedido

Patente de Invenção MÉTODO ALTERNATIVO PARA OBTENÇÃO DO COEFICIENTE DE TEMPERATURA DA FREQUENCIA RESSONANTE NA REGIÃO DE MICRO-ONDAS(tf) — IPC G01N 22/00
Patente de Invenção MÉTODO ALTERNATIVO PARA OBTENÇÃO DO COEFICIENTE DE TEMPERATURA DA FREQUENCIA RESSONANTE NA REGIÃO DE MICRO-ONDAS(tf) — IPC G01N 22/00. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

102013001855

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

24/01/2013

Publicação

09/12/2014

Andamento no INPI

  1. Depósito24/01/13
  2. Publicação09/12/14
  3. Exame
  4. Deferimento13/04/21
  5. Concessão08/06/21
  6. Em vigor24/01/33

Patente concedida em 08/06/2021 e em vigor até 24/01/2033. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:24/01/2033

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Última movimentação publicada pelo INPI: 08/06/2021. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

U. C. (pessoa física)

CE, BR

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Inventores

A. S. (pessoa física)

BR

M. S. (pessoa física)

BR

T. F. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

UM NOVO MÉTODO PARA OBTENÇÃO DO COEVICIENTE DE TEMPERATURA DA FREQUÊNCIA RESSONANTE NA REGIÃO DE MICRO-ONDAS Nesta patente um novo método de medição do valor do coeficiente de temperatura da frequência ressonante (tf) para amostras dielétricas é apresentado. O métodotradicional (baseado no método de Courtney) apresenta algumas limitaçaes para a medição do tf, como por exemplo, amostra com altas perdas dielétricas, devido é degradação do modo TE011 ser prejudicada devido ao decrescimento do fator de qualidade Q do dielétrico. Um novo arranjo experimental, para medir o tf, baseado na variação do modo dominante de uma DRA com o aumento de temperatura é proposta nesta patente. Este novo método é bastante compatível com a medida tradicional do tf. Esta nova metodologia apresenta como grande vantagem por ser pouco sensível a perda dielétrica do material. Nas amostras comperda dielétricas superiores a 1x102 estudadas foipossível a medição do tf. amostras com tf conhecido foram medidas em ambos métodos, o tradicional e o proposto nesta patente. A Alumina (A1203) e o Titanato de célcio (CaTiO3) foram selecionados devido seu t2 serem conhecidos na literatura e suas perdas dielétricas serem baixas (iO3), o niobato de bismuto e tít&nío (Bi3NbTíOg) foi escolhido por nAo ser possível medir t2 no método tradicional devido sua alta perda dielétrica. Os resultados obtídos para a medida de t~ do CaTiO3 e da A1203, no novo método proposto, apresentou uma excelente concordância com os resultado obtido pelo método tradicional, também mostrou-se um método muito eficiente para a medida de tf de amostras com alto valor de perdas dielétrícas (>102),como o niobato de bismuto e titânio (Bi3NbTíO9).

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 24/01/2013, observadas as condições legais

08/06/2021

RPI 2631

Deferimento

#9.1

13/04/2021

RPI 2623

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

22/12/2020

RPI 2607

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

28/07/2020

RPI 2586

Exigência preliminar (variante)

#6.22

14/01/2020

RPI 2558

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

04/12/2018

RPI 2500

Retificação de publicação

#3.8

REFERENTE À RPI 2292 DE 09/12/2014 QUANTO AO ITEM (54)

15/05/2018

RPI 2471

Publicação do pedido de patente

#3.1

09/12/2014

RPI 2292

Pedido de patente depositado

#2.1

12/08/2014

RPI 2275

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo 13130000021 em 24/01/2013 04:13(CE).

29/07/2014

RPI 2273

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