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Dado oficial do INPI

PROCESSO E INSTALAÇÃO PARA INSPEÇÃO E/OU CLASSIFICAÇÃO CONBINANDO ÁNALISE DE SUPERFÍCIE E ÁNALISE DE VOLUME

ArquivadaPatente de Invenção

Dados do pedido

Número

102012030533

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

30/11/2012

Publicação

27/01/2015

Andamento no INPI

  1. Depósito30/11/12
  2. Publicação27/01/15
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 30/11/2012, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 19/07/2016. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

P. T. (pessoa física)

FR

U. S. (pessoa física)

FR

Inventores

A. B. (pessoa física)

FR

B. B. (pessoa física)

FR

D. M. (pessoa física)

FR

F. G. (pessoa física)

FR

J. C. (pessoa física)

FR

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

FR

1161200 · 06/12/2011

Resumo técnico

PROCESSO E INSTALAÇÃO PARA INSPEÇÃO E/OU ANÁLISE SUPERFICIAL E COMBINATÓRIA. Esta invenção tem como seu objeto um processo automático e instalação para inspeção e/ou classificação de objetos, artigos ou similares, pertencentes à pelo menos duas categorias diferentes e dispostos em movimento de avanço aproximadamente em uma camada única, por exemplo, em uma esteira transportadora ou um suporte de transporte similar. Um processo caracterizado por ser consistido em submeter o fluxo de objetos, artigos ou similares (2) em movimento de avanço a pelo menos dois tipos diferentes de análise sem contato por radiação, cujos resultados são utilizados de forma combinada em cada objeto, artigo ou similar (2), para realizar uma discriminação entre esses objetos, artigos ou similares (2) e/ou uma avaliação de pelo menos uma característica destes, a análise usada compreendendo, por um lado, pelo menos um processo de análise de superfície capaz de determinar a composição física e/ou química da camada externa de um objeto ou similar (2) exposto à radiação usada neste processo e, por outro lado, pelo menos um processo de análise de volume que seja capaz de determinar a espessura equivalente de material do mesmo objeto ou similar (2).

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

19/07/2016

RPI 2376

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

22/03/2016

RPI 2359

Publicação do pedido de patente

#3.1

27/01/2015

RPI 2299

Pedido de patente depositado

#2.1

30/09/2014

RPI 2282

Exigência - art. 21 da LPI

#2.5

22/10/2013

RPI 2233

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo 16120005782 em 30/11/2012 03:08(RS).

30/04/2013

RPI 2208

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