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Dado oficial do INPI

MÉTODO PARA MONITORAR A QUALIDADE DOS PROCESSOS INDUSTRIAIS E SEUS SISTEMAS

ArquivadaPatente de Invenção

Dados do pedido

Número

102012027171

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

23/10/2012

Publicação

15/07/2014

Andamento no INPI

  1. Depósito23/10/12
  2. Publicação15/07/14
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: a exigência técnica do INPI não foi cumprida no prazo (art. 36 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 18/02/2020. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

C. R. F. SOCIETÀ CONSORTILE PER AZIONI

IT

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Inventores

G. D. (pessoa física)

IT

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

EP

12154007.4 · 06/02/2012

Resumo técnico

"MÉTODO PARA MONITORAR A QUALIDADE DOS PROCESSOS INDUSTRIAIS E SEUS SISTEMAS" Um método para monitorar a qualidade de um processo de trabalho industrial, que inclui identificar defeitos do processo de trabalho, do tipo compreendendo as etapas de: - adquirir (100) pelo menos um sinal (x(t)), tendo componentes de múltiplas frequência do processo de trabalho industrial (10), De acordo com a invenção, o método ainda compreende as operações de: - decompor (200) dito pelo menos um sinal tendo componentes de múltiplas frequências (x(t)) em sinais tendo componentes de frequência única (IMF~1~...IMF~n-1~, OIMF~1~...OIMF~n-1~), - calcular (300) o conteúdo informativo (var~1~...var~n-1~) para cada sinal tendo um componente de frequência única (IMF~1~...IMF~n-1~OIMF~1~...OIMF~n-1~), - analisar (400) o conteúdo informativo (var~1~...var~n-1~) para cada sinal tendo um componente de frequência única (IMF~1~...IMF~n-1~, OIMF~1~...OIMF~n-1~), e se o valor do conteúdo informativo (var~n-1~) do sinal do componente de frequência única mais baixo (IMF~n1~, OIMF~n-1~) não representar uma porcentagem principal (k, k1, k2) do conteúdo informativo do sinal total adquirido (x(t)), dito sinal adquirido tendo componentes de múltiplas frequência (x(t)) é avaliado como indicativo de um processo de trabalho com defeitos, e uma etapa de análise de defeitos (500) é realizada em dito sinal tendo componentes de múltiplas frequências (x(t)).

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI

#11.2

18/02/2020

RPI 2563

Exigência preliminar

#6.21

29/10/2019

RPI 2547

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

04/12/2018

RPI 2500

Publicação do pedido de patente

#3.1

15/07/2014

RPI 2271

Pedido de patente depositado

#2.1

03/12/2013

RPI 2239

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo 20120099784 em 23/10/2012 04:30(RJ).

12/03/2013

RPI 2201

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