NRCC
NOTICE OF REGISTRATION CONFIRMATION EMAILED
21/04/2026
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Dado oficial do USPTO
DUNE
Sabia que essa marca já está registrada no Estados Unidos?
Antes de investir em nome, identidade e divulgação, valide risco de colisão e estratégia de registro para não perder tempo nem budget.
Active USPTO registrationTipo: VerbalEscritório: US
Diagnóstico de risco e oportunidade
Leitura executiva para decisão de naming, protocolo e monitoramento.
Situação USPTO
Active USPTO registration
Tipo de processo
Pedido e registro
Eventos registrados
21
Atualização mais recente
21/04/2026
Classificação
Registrada
Tipo de marca
Verbal
Classes Nice
7, 9, 42
Data de depósito
01/05/2025
Data de registro
21/04/2026
Data de expiração
-
Ação recomendada
Execute uma análise de colidência completa e valide classes antes de qualquer protocolo ou investimento de marca.
Próximo passo
Esses são os detalhes do processo de registro. Mesmo assim, o monitoramento constante é o que garante tranquilidade de que o seu principal ativo continue protegido.
Dados completos do processo
Campos estruturados da autoridade responsável e do histórico oficial.
Data da situação
21/04/2026
Última transação
21/04/2026
Escritório responsável
United States Patent and Trademark Office
Código da situação
700
Cadastro oficial
Principal Register
Fundamento do pedido
Intent to use, Foreign priority
Código do desenho
4
Tipo de titular
16
Localização do titular
Oberkochen, DE
Examinador
CALI, KRISTIN K
Unidade examinadora
O40
Localização atual
FILE REPOSITORY (FRANCONIA)
Titulares e representantes
Titulares
Carl Zeiss SMT GmbH
Representantes
Ronald S. Kadden Leydig, Voit & Mayer, Ltd.
Classificação técnica
Classes Nice
Classe 7Classe 9Classe 42
Códigos Vienna
Sem códigos Vienna disponíveis.
Produtos e serviços
Classe 7
Instruments and applications for the correction of wafer formssemiconductor wafer processing equipmentsemiconductor wafer processing machines
Classe 9
Instruments and applications for the correction of wafer formsdownloadable computer software for use in processing semiconductor wafers and optical inspection apparatus for inspection of semiconductor materials in the nature of semiconductor wafers; laser systems for correcting distortion of wafers comprised of lasers for measuring and optical sensors; downloadable computer software for inspecting wafers
Classe 42
Providing online non-downloadable computer software for inspecting wafers
Publicações
Histórico de despachos e eventos da marca no USPTO.
21 publicações encontradas
R.PR
REGISTERED-PRINCIPAL REGISTER
21/04/2026
NPUB
OFFICIAL GAZETTE PUBLICATION CONFIRMATION E-MAILED
03/03/2026
PUBO
PUBLISHED FOR OPPOSITION
03/03/2026
NONP
NOTIFICATION OF NOTICE OF PUBLICATION E-MAILED
25/02/2026
CNSA
APPROVED FOR PUB - PRINCIPAL REGISTER
09/02/2026
XAEC
EXAMINER'S AMENDMENT ENTERED
09/02/2026
GNEN
NOTIFICATION OF EXAMINERS AMENDMENT E-MAILED
09/02/2026
GNEA
EXAMINERS AMENDMENT E-MAILED
09/02/2026
CNEA
EXAMINERS AMENDMENT -WRITTEN
09/02/2026
DOCK
ASSIGNED TO EXAMINER
04/02/2026
TEME
TEAS/EMAIL CORRESPONDENCE ENTERED
13/11/2025
CRFA
CORRESPONDENCE RECEIVED IN LAW OFFICE
13/11/2025
TROA
TEAS RESPONSE TO OFFICE ACTION RECEIVED
13/11/2025
GNRN
NOTIFICATION OF NON-FINAL ACTION E-MAILED
27/08/2025
GNRT
NON-FINAL ACTION E-MAILED
27/08/2025
CNRT
NON-FINAL ACTION WRITTEN
27/08/2025
DOCK
ASSIGNED TO EXAMINER
21/08/2025
NWOS
NEW APPLICATION OFFICE SUPPLIED DATA ENTERED
01/05/2025
MAFR
APPLICATION FILING RECEIPT MAILED
01/05/2025
NWAP
NEW APPLICATION ENTERED
01/05/2025
Proteção contínua da sua marca
Seja avisado a cada novo depósito que ameace DUNE ou a sua marca.
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