01/11/2011
RPI 2130
Arquivamento definitivo por descumprimento
8.11
Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2082 de 30/11/2010.
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Brevetto per invenzionePI0006527
PROCESSO E EQUIPAMENTO PARA ANÁLISE ELETRÔNICA DE FRAGMENTAÇÃO DE VIDRO TEMPERADO
Pilkington Brasil LTDA.
Arquivada/ExtintaIPC C03B 27/04
Stato presso l'INPI
- Archiviato
Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Parlare con uno specialistaUltimo atto pubblicato dall'INPI: 01/11/2011. Aggiorniamo a ogni nuova RPI, pubblicata settimanalmente.
Dati tecnici
Abstract
"PROCESSO E EQUIPAMENTO PARA ANÁLISE ELETRÔNICA DE FRAGMENTAÇÃO DE VIDRO TEMPERADO". Dito processo compreendendo as etapas de: - posicionar uma placa de vidro (V) temperado sobre um tampo plano, fosco e translúcido, de uma mesa (10); - fragmentar a placa de vidro (V) por meio de seu pressionamento puntual controlado; - selecionar uma área, com dimensão predeterminada, da placa de vidro fragmentada que contenha, por observação visual, os maiores e menores fragmentos de vidro; -submeter a placa de vidro fragmentada a uma iluminação nela incidente através do tampo fosco translúcido da mesa (10); - captar uma imagem ampliada da referida área selecionada da placa de vidro fragmentada; -digitalizar a imagem captada; e processar a imagem captada e digitalizada em uma unidade processadora de dados (40), de modo a comparar os diferentes parâmetros obtidos com aqueles constantes em padrões pré-estabelecidos e emitir informe sobre a condição do produto analisado em relação à qualidade esperada.
Classificazione IPC
Storico delle procedure
Pubblicazioni nella Gazzetta Brasiliana della Proprietà Industriale (RPI).
30/11/2010
RPI 2082
Arquivamento por falta de pagamento
8.6
Referente à 9ª e 10ª anuidade.
30/07/2002
RPI 1647
Publicação do pedido de patente
3.1
20/02/2001
RPI 1572
Pedido de patente depositado
2.1
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