Brevetto per invenzione COMISSIONAMENTO DE UMA DISPOSIÇÃO DE TESTE de OMICRON ELECTRONICS GMBH — IPC G01R 31/317. Figura pubblicata dall'INPI nella Rivista della Proprietà Industriale.
COMISSIONAMENTO DE UMA DISPOSIÇÃO DE TESTE. A presente invenção refere-se ao fato de que para tornar a realização de um teste com uma disposição de teste - consistindo em uma pluralidade de componentes de teste, que são conectados entre si por um barramento de dados - mais segura, é previsto que componentes de teste (Pn) dos dispositivos de teste (PGi) sejam conectados de acordo com uma configuração de teste predeterminada, que pelo menos um dispositivo de teste (PGi) com uma unidade de verificação de função (13) seja estabelecido como dispositivo iniciador (10), que sejam determinados todos os componentes de teste (Pn) conectados no barramento de dados (2) e sejam salvos como lista de componentes de teste (PL) no dispositivo iniciador (10), que a lista de componentes de teste (PL) seja exibida e enviada a uma unidade de verificação (8) conectada com o dispositivo iniciador (10), que a lista de componentes de teste (PL) exibida seja verificada por um usuário, que a lista de componentes de teste (PL) exibida seja confirmada pelo usuário, quando esta corresponder à configuração de teste predeterminada e a lista de componentes de teste (PL) seja transmitida como lista de configuração do usuário (Bl) para o dispositivo iniciador (10), em que esta seja comparada com a lista de componentes de teste (PL) e que a disposição de teste (1) seja transferida para um estado operacional quando a lista de configuração do usuário (BL) obtida corresponder à lista de componentes de teste (PL) salva.
Storico delle procedure
Pubblicazioni nella Gazzetta Brasiliana della Proprietà Industriale (RPI).
