(11) 98705-3426
TrademarkIQ iconTrademarkIQ
Back to search
Official data from INPI

SISTEMA E PROCESSO PARA MEDIÇÃO DE UM PARAMETRO.

ArquivadaInvention Patent

Application data

Number

PI9800921

Type

Invention Patent

Filing

03/17/1998

Publication

09/14/1999

Progress at the INPI

  1. Filing03/17/98
  2. Publication09/14/99
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned: examination was not requested within the 36 months following the 03/17/1998 filing, the deadline set by art. 33 of the Brazilian IP Act. The technology is in the public domain in Brazil.

Talk to a specialist

Latest action published by the INPI: 06/08/2004. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

Litton Systems Inc.

US

See this company's full portfolio

Inventors

D. H. (pessoa física)

US

Technical data

IPC Classification

Priority claims

US

08/846503 · 03/19/1997

Abstract

"SISTEMA E PROCESSO PARA MEDIÇÃO DE UM PARÂMETRO". Trata-se de um sistema de detecção de pressão empregando uma pluralidade de fontes de sinais óticos de comprimento de onda único pulsadas, cada uma das mesmas emitindo um comprimento de onda distinto, sendo dessa forma gerado um feixe incidente multiplexado. O feixe incidente é dividido em uma primeira parte enviada para um primeiro dispositivo fotodetetor que gera uma sinal de referência para cada comprimento de onda, e uma segunda parte que interroga um ou mais sensores de pressão Fabry-Perot. A parte de feixe de interrogação é modulada em fase por variações de amplitude de intervalo no(s) sensor(es), sendo transmitida para um segundo dispositivo foto-detetor que gera um sinal de intensidade medida para cada comprimento de onda. Para cada comprimento de onda, a razão entre o sinal de intensidade medida e o sinal de intensidade de referência é obtida, resultando em dois termos, um dos quais é um termo de interferência que é proporcional ao coseno do ângulo de desvio de fase Fabry-Perot, que é uma função da amplitude de intervalo. Mediante a seleção de comprimentos de onda em relação de quadratura para uma amplitude de intervalo Fabry-Perot nominal, as diferenças algébricas podem ser obtidas entre as proporções para obtenção de duas expressões proporcionais, respectivamente, ao coseno e ao seno do ângulo de desvio de fase. Um cálculo de tangente inversa é utilizado para obter a medida de , que é proporcional à amplitude de intervalo, que, por sua vez, é uma função conhecida da pressão aplicada ao sensor. As fontes óticas podem ser pulsadas seqüencialmente para obtenção de um feixe incidente multiplexado por divisão de tempo, ou para simultaneamente ser obtido um feixe incidente multiplexado por divisão de comprimento de onda.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

06/08/2004

RPI 1744

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

10/21/2003

RPI 1711

Publicação do pedido de patente

#3.1

09/14/1999

RPI 1497

Patent monitoring

Track this patent in real time.

Receive alerts on INPI events, decisions, and expiry dates for your portfolio.