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Official data from INPI

SISTEMA DE INSPEÇÃO DO TIPO SEM CONTATO.

Arquivada/ExtintaInvention PatentPCT · JP1997001499

Application data

Number

PI9702250

Type

Invention Patent

Filing

05/01/1997

Publication

02/17/1999

PCT

JP1997001499

Progress at the INPI

  1. Filing05/01/97
  2. Publication02/17/99
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned for failure to pay the annuities (art. 86 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.

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Latest action published by the INPI: 12/20/2005. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

Eisai CO., LTD

JP

Sankyo Manufacturing CO., LTD

JP

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Inventors

H. K. (pessoa física)

JP

Technical data

IPC Classification

Priority claims

JP

8-111757 · 05/02/1996

Abstract

"SISTEMA DE INSPEÇÃO DO TIPO SEM CONTATO" , compreendendo um sistema de inspeção do tipo sem contato para inspeção de amostras de teste sendo transportadas, usando um dispositivo de inspeção do tipo sem contato, para avaliar a qualidade das amostras de teste automaticamente. O sistema de inspeção do tipo sem contato compreende uma mesa giratória anular que é girada para transportar amostras de teste, uma mesa de montagem do dispositivo de inspeção dispostas dentro e fora da mesa giratória, e tendo uma câmara CCD e similares como um dispositivo de inspeção do tipo sem contato para inspeção das amostras de teste sendo montado na mesa de montagem do dispositivo de inspeção, um cabeçote giratório que é suportado acima da mesa giratória e giratório sobre o centro de rotação da mesa giratória para reter as porções superiores das amostras de teste sendo transportadas pela mesa giratória, e um mecanismo de intertravamento para girar o cabeçote giratório em sincronia com a mesa giratória. Com esta construção, a capacidade de inspeção do dispositivo de inspeção do tipo sem contato pode ser obtida em uma extensão do tipo sem contato pode ser obtida em uma extensão satisfatória, o layout do dispositivo de inspeção pode ser projetado livremente, e a inspeção das amostras de teste pelo dispositivo deinspeção pode ser executada com uma alta precisão e numa faixa ampla.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

referente á 8ª anuidade.

12/20/2005

RPI 1824

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

02/17/1999

RPI 1467

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