MEDIDOR DE PROPRIEDADES ELETROMAGNÉTICAS PARA A MEDIDA IN SITU DE QUALQUE PARÂMETRO DE UM MATERIAL QUE POSSA SER INFERIDO PELA MENSURAÇÃO DAS SUAS PROPRIEDADES ELETROMAGNÉTICAS E PROCESSO PARA TAL MENSURAÇÃO

IPC Classification

Priority claims

Abstract

Patente de Invenção: MEDIDOR DE PROPRIEDADE ELETROMAGNÉTICA PARA A MEDIDA IN SITU DE QUALQUER PARÂMETRO DE UM MATERIAL QUE POSSA SER INFERIDO PELA MENSURAÇÃO DAS SUAS PROPRIEDADES ELETRO-MAGNÉTICAS E PROCESSO PARA TAL MENSURAÇÃO. O processo provê as seguintes fases: Passagem do material do processo através de uma célula de medida sensível à freqüência. Exposição do material do processo à energia eletromagnética produzida por uma fonte de múltipla freqüência. Controle da fonte de múltipla freqüência por um computador para variar a freqüência do sinal, de modo que um sinal de saída seja pruduzido, tendo característica de resposta de freqüência distintiva. Detecção do sinal de saída e conversão do sinal em uma representação digital. Análise da representação digital do sinal para determinar a freqüência de corte. Determinação da exatidão da característica de corte por algoritmos matemáticos. Da freqüência de corte medida e da exatidão da característica de corte, determiação da constante dielétrica e da condutividade do material. Uso de dados ou de equações de calibração armazenados, computando e expondo visualmente as propriedades do material desejado, por exemplo, o teor de umidade do material. E ainda uso da atenuação da faixa de passagem para determinar a densidade do material.