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Official data from INPI

PROCESSO E DISPOSITIVO PARA REALIZAR UMA COMPARAÇÃO ÓPTICA ENTRE PELO MENOS DUAS AMOSTRAS

ConcedidaInvention PatentPCT · EP2010002642 Official document available

Application data

Number

PI1014354

Type

Invention Patent

Filing

04/29/2010

Publication

04/05/2016

PCT

EP2010002642

Patent grant document available

We have the complete official document for this filing, as published by INPI.

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Progress at the INPI

  1. Filing04/29/10
  2. Publication04/05/16
  3. Examination
  4. Allowance09/17/19
  5. Grant11/12/19
  6. In force04/29/30

The patent was granted on 11/12/2019 and is in force until 04/29/2030. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:04/29/2030

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Latest action published by the INPI: 11/12/2019. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

SCHATTDECOR AG

DE

Inventors

J. J. (pessoa física)

DE

K. H. (pessoa física)

DE

M. K. (pessoa física)

DE

Technical data

Priority claims

DE

10 2009 019 545.9 · 04/30/2009

Abstract

PROCESSO E DISPOSITIVO PARA REALIZAR UMA COMPARAÃÃO ÃPTICA ENTRE AO MENOS DUAS AMOSTRAS, PREFERENCIALMENTE PELA COMPARAÃÃO DE RECORTES SELECIONÃVEIS, BEM COMO EMPREGO DE UM DISPOSITIVO PARA REALIZAR O PROCESSO.A presente invenção refere-se a um processo aperfeiçoamento bem como a um dispositivo aperfeiçoado para realização de uma comparação óptica entre pelo menos duas amostas, preferencialmente pela comparação de recortes selecionáveis, os quais são caracterizados pelos seguintes pontos marcantes:- a amostra (UR, LE, I) a ser examinada e que é caracterizada por uma desigualdade estrutural e/ou na cor, será iluminada por meio de luz difusa,- a partir da luz refletiva da amostra a ser examinada (UR, LE, I), um espectro de interferência é gerado através de um espectrômetro (23),- o espectro de interferência gerado pelo espectrômetro (23) é representado em uma câmara (25, 25'),- o espectro de interferência assim obtido e/ou valores daí derivados da amostra (I) a ser examinada servem como valores de amostra que serão comparados com valores de amostra correspondentes que foram obtidos de uma amostra de referência (UR, LE).

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 29/04/2010, observadas as condições legais

11/12/2019

RPI 2549

Deferimento

#9.1

09/17/2019

RPI 2541

6.20

06/04/2019

RPI 2526

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

01/15/2019

RPI 2506

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

04/05/2016

RPI 2361

Alteração de dados cadastrais

#1.1

12/05/2012

RPI 2187

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