MÉTODO E SISTEMA DE MEDIR O NÍVEL DE UMA FASE DE UMA PLURALIDADE DE FASES DE UMA MISTURA CONDUTORA OU SEMICONDUTORA DENTRO DE UM RECIPIENTE

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Abstract

MÉTODO E SISTEMA DE MEDIR O NÍVEL DE UMA FASE DE UMA PLURALIDADE DE FASES DE UMA MISTURA CONDUTORA OU SEMICONDUTORA DENTRO DE UM RECIPIENTE.A presente invenção refere-se a um sistema para medir o nível de uma pluralidade de fases de uma mistura condutora ou semicondutora em um recipiente, o sistema compreendendo um recipiente configurado para reter uma mistura condutora ou semicondutora incluindo uma pluralidade de fases, o recipiente compreendendo uma parede lateral com uma superfície interna e uma superfície externa, uma pluralidade de antenas configuradas para transmitir sinais eletromagnéticos e/ou de corrente de Foucault para dentro da parede lateral do recipiente para invadir a pluralidade de fases na mistura condutora ou semicondutora e para receber os sinais correspondentes refletidos da pluralidade de fases na mistura condutora ou semicondutora, as antenas situadas em uma pluralidade de níveis diferentes ao longo de superfície externa da parede lateral do recipiente, em que os sinais refletidos são recebidos, um módulo transmissor configurado para gerar sinais eletromagnéticos e/ou de corrente de Foucault em comunicação com a pluralidade de antenas, um módulo receptor configurado para receber os sinais eletromagnéticos e/ou de corrente de Foucault em comunicação com a pluralidade de antenas, um módulo de controle em comunicação com o módulo transmissor e o módulo receptor configurado para controlar a operação do módulo transmissor e do módulo receptor, e um módulo de análise de sinal em comunicação com o módulo receptor configurado para processar os sinais refletidos para determinar os níveis da pluralidade de fases de mistura condutora ou semicondutora dentro do recipiente.