(11) 98705-3426
TrademarkIQ iconTrademarkIQ
Back to search
Official data from INPI

DISPOSITIVO DE MEDIÇÃO PARA MEDIR UM FEIXE LASER CONCENTRADO

ExtintaInvention PatentPCT · EP2008007575 Official document available

Application data

Number

PI0815425

Type

Invention Patent

Filing

09/12/2008

Publication

08/09/2016

PCT

EP2008007575

Patent grant document available

We have the complete official document for this filing, as published by INPI.

Access the document

Progress at the INPI

  1. Filing09/12/08
  2. Publication08/09/16
  3. Examination
  4. Allowance03/19/19
  5. Grant04/09/19
  6. Terminated11/30/21

The patent was granted on 04/09/2019 and later terminated. Protection ended before the full term and the technology is in the public domain in Brazil.

Talk to a specialist

Latest action published by the INPI: 11/30/2021. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

ALCON INC.

CH

WAVELIGHT AG

DE

WAVELIGHT GMBH

DE

See this company's full portfolio

Inventors

K. O. (pessoa física)

DE

Z. B. (pessoa física)

DE

Technical data

IPC Classification

Priority claims

EP

07017968.4 · 09/13/2007

Abstract

DISPOSITIVO DE MEDIÃÃO PARA MEDIR UM FEIXE LASER CONCENTRADO. De acordo com uma realização, o dispositivo de medição para medir um feixe laser compreende um sistema de lentes de magnificação com um total de duas lentes (10, 12) que são dispostas em série no caminho do feixe laser e cujos focos são coincidentes, assim como a câmera (74) que está disposta entre as duas lentes (10, 12) no foco da última lente (12) e inclui um sensor eletrônico de imagem (14), que gera uma imagem eletrônica do feixe laser magnificado. As lentes (10, 12), juntamente com a câmera (74), são ajustáveis ao longo do caminho do feixe em relação a um ponto de referência (46) dispositivo de medição, com a finalidade de localizar a cintura do feixe do feixe laser e de determinar o perfil do diâmetro do feixe laser. Dispositivo de medição também inclui um adaptador (42), que integra o caminho do feixe para acoplamento dispositivo de medição a um sistema laser que fornece o feixe laser. O adaptador (42) forma uma superfície de suporte (46) para o sistema laser, que está direcionada axialmente em relação a um eixo do feixe (16) do feixe laser e permite dispositivo de medição ser acoplado in situ no local de instalação do sistema laser.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Manutenção da Extinção - Art. 78 inciso IV da LPI

#24.10

Em virtude da extinção publicada na RPI 2640 de 10-08-2021 e considerando ausência de manifestação dentro dos prazos legais, informo que cabe ser mantida a extinção da patente e seus certificados, conforme o disposto no artigo 12, da resolução 113/2013.

11/30/2021

RPI 2656

Extinção para fins de restauração (art. 87)

#21.6

Referente à 13ª anuidade.

08/10/2021

RPI 2640

Transferência deferida

#25.1

04/07/2020

RPI 2570

Alteração de nome deferida

#25.4

03/17/2020

RPI 2567

Concessão da patente

#16.1

10 (dez) anos contados a partir de 09/04/2019, observadas as condições legais

04/09/2019

RPI 2518

Deferimento

#9.1

03/19/2019

RPI 2515

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

01/02/2019

RPI 2504

6.20

07/31/2018

RPI 2482

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

08/09/2016

RPI 2379

Alteração de dados cadastrais

#1.1

08/23/2011

RPI 2120

Patent monitoring

Track this patent in real time.

Receive alerts on INPI events, decisions, and expiry dates for your portfolio.