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Official data from INPI

SISTEMA ANALÍTICO PARA ANALISAR E CONTROLAR UM PROCESSO DE PRODUÇÃO DE PRODUTOS DE VIDRO, E, MÉTODOS DE ANALISAR E CONTROLAR UM PROCESSO DE PRODUÇÃO PARA PRODUTOS DE VIDRO

Arquivada/ExtintaInvention PatentPCT · NL2003000547

Application data

Number

PI0313057

Type

Invention Patent

Filing

07/30/2003

Publication

08/02/2005

PCT

NL2003000547

Progress at the INPI

  1. Filing07/30/03
  2. Publication08/02/05
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned for failure to pay the annuities (art. 86 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.

Talk to a specialist

Latest action published by the INPI: 09/20/2011. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

Centrum Voor Technische Informatica B.V.

NL

Xpar Vision B.V.

NL

Inventors

J. D. (pessoa física)

NL

Technical data

IPC Classification

Priority claims

NL

1021182 · 07/30/2002

Abstract

"SISTEMA ANALÍTICO PARA ANALISAR E CONTROLAR UM PROCESSO DE PRODUÇÃO DE PRODUTOS DE VIDRO, E, MÉTODO DE ANALISAR E CONTROLAR UM PROCESSO DE PRODUÇÃO PARA PRODUTOS DE VIDRO". Um sistema analítico para analisar e controlar um processo de modelagem de produtos de vidro é descrito. O sistema analítico compreende um sistema de medição sensível a infravermelho e um processador em comunicação com o mesmo, o sistema de medição sensível a infravermelho sendo equipado para medir radiação infravermelho originária de produtos de vidro quentes imediatamente após o processo de modelagem dos produtos de vidro, e o processador sendo equipado para determinar uma distribuição de calor nos produtos de vidro com base na informação determinada pelo sistema de medição. Devido ao sistema de medição sensível a infravermelho ser sensível apenas à radiação na assim chamada região de infravermelho próximo (NIR), radiação originária do interior da parede de vidro pode ser determinada. Isto torna possíveis métodos analíticos inéditos com os quais, inter alia, uma distinção pode ser feita entre uma mudança na espessura de parede de vidro e uma mudança na temperatura.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2064 de 27/07/2010.

09/20/2011

RPI 2124

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 5ª, 6ª e 7ª anuidade(s),

07/27/2010

RPI 2064

Transferência deferida

#25.1

Transferido de: Xpar Vision B.V.

09/05/2006

RPI 1861

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

08/02/2005

RPI 1804

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