AMOSTRAGEM DE NEGRO DE CARBONO PARA MEDIÇÃO DE ÁREA DE SUPERFÍCIE DE PARTÍCULA USANDO INCANDESCÊNCIA INDUZIDA POR LASER E PROCESSO DE CONTROLE EM REATOR BASEADO NISSO

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Abstract

"AMOSTRAGEM DE NEGRO DE CARBONO PARA MEDIÇÃO DE ÁREA DE SUPERFÍCIE DE PARTÍCULA USANDO INCANDESCÊNCIA INDUZIDA POR LASER E PROCESSO DE CONTROLE EM REATOR BASEADO NISSO". A presente invenção se refere a um método para amostragem in-situ e medição de pureza de particulado (por exemplo, negro de carbono) num processo de corrente, tal como no reator de negro de carbono, compreendendo (a) amostragem de partículas in-situ a partir de um processo de corrente, (b) ajuste da amostra a condições adequadas para 1,11, (c) medição da pureza usando IIL, e (d) correlacionamento da medição de pureza IIL com a pureza real da partícula. Método de amostragem in-situ de uma corrente que contém uma partícula e medição da pureza da partícula usando incandescência induzida por laser (IIL) compreendendo (a) amostragem de partícula in-situ, (b) ajuste da amostra a condições adequadas para IIL, (c) medição da amostra ajustada usando IIL, e (d) correlacionamento das medidas IIL com a pureza real da partícula. Também está incluído um método de amostragem e controle de um processo baseado em métodos de tempo-real, on-line, in-situ para amostragem e medição de partículas. Amostragem pode compreender retirar um sidestream de uma fonte de partículas. Ajustar a amostra a condições adequadas para IIL pode compreender dilur a amostra ou trazer a temperatura da amostra à condição ambiente Correlacionar pode compreender usar uma função de correlação determinada por comparação de medições IIL e medições de pureza laboratoriais para amostras de partícula retiradas ao mesmo tempo.