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DISPOSITIVO DE CENTRALIZAÇÃO, MÉTODO PARA A DEFINIÇÃO DE PARÂMETROS DE CENTRALIZAÇÃO ÓPTICA DE UM USUÁRIO DE ÓCULOS E USO DO DISPOSITIVO DE CENTRALIZAÇÃO

Em AnáliseInvention PatentPCT · EP2022086767

Application data

Invention Patent DISPOSITIVO DE CENTRALIZAÇÃO, MÉTODO PARA A DEFINIÇÃO DE PARÂMETROS DE CENTRALIZAÇÃO ÓPTICA DE UM USUÁRIO DE ÓCULOS E USO DO DISPOSITIVO DE CENTRALIZAÇÃO de RODENSTOCK GMBH — IPC G02C 13/00
Invention Patent DISPOSITIVO DE CENTRALIZAÇÃO, MÉTODO PARA A DEFINIÇÃO DE PARÂMETROS DE CENTRALIZAÇÃO ÓPTICA DE UM USUÁRIO DE ÓCULOS E USO DO DISPOSITIVO DE CENTRALIZAÇÃO de RODENSTOCK GMBH — IPC G02C 13/00. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.

Number

112024011821

Type

Invention Patent

Filing

12/19/2022

Publication

09/17/2024

PCT

EP2022086767

Progress at the INPI

  1. Filing12/19/22
  2. Publication
  3. Examination
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was filed at the INPI on 12/19/2022. It awaits formal examination and publication in the RPI gazette.

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Latest action published by the INPI: 09/17/2024. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

RODENSTOCK GMBH

DE

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Inventors

L. G. (pessoa física)

DE

M. S. (pessoa física)

DE

S. T. (pessoa física)

DE

Technical data

IPC Classification

Priority claims

DE

10 2021 214 979.0 · 12/23/2021

Abstract

DISPOSITIVO DE CENTRALIZAÇÃO, MÉTODO PARA A DEFINIÇÃO DEPARÂMETROS DE CENTRALIZAÇÃO ÓPTICA DE UM USUÁRIO DE ÓCULOS EUSO DO DISPOSITIVO DE CENTRALIZAÇÃO. Trata-se de um dispositivo de centralização (10) de um usuário de óculos (30) que compreende um alvo de fixação (40) que gera um extenso campo de luz plano em uma localização de medição para iluminar pelo menos um olho do usuário de óculos (30). Um mecanismo de medição serve para determinar pelo menos uma posição de medição de pelo menos um olho do usuário de óculos (30) ao observar o campo de luz gerado pelo alvo de fixação (40). Um mecanismo de correção inclui informações de desvio sobre um desvio do campo de luz realmente gerado pelo alvo de fixação (40) na localização de medição a partir de um campo de luz ideal predeterminado na localização de medição. O mecanismo de correção corrige a posição de medição determinada do pelo menos um olho ao observar o campo de luz realmente gerado na localização de medição, levando em consideração as informações de desvio, para uma posição ideal do pelo menos um olho, que o pelo menos um olho provavelmente assumiria na localização de medição se observasse o campo de luz ideal predeterminado no mesmo. Um mecanismo de cálculo paramétrico determina pelo menos um dos parâmetros de centralização óptica a ser definidos com base na posição ideal determinada do pelo menos um olho.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

09/17/2024

RPI 2802

Alteração de dados cadastrais

#1.1

06/25/2024

RPI 2790

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