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Official data from INPI

MÉTODO E SISTEMA DE CALIBRAÇÃO

Em AnáliseInvention PatentPCT · EP2022078431

Application data

Invention Patent MÉTODO E SISTEMA DE CALIBRAÇÃO de RSP SYSTEMS A/S — IPC A61B 5/00
Invention Patent MÉTODO E SISTEMA DE CALIBRAÇÃO de RSP SYSTEMS A/S — IPC A61B 5/00. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.

Number

112024010195

Type

Invention Patent

Filing

10/12/2022

Publication

01/28/2025

PCT

EP2022078431

Progress at the INPI

  1. Filing10/12/22
  2. Publication
  3. Examination
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was filed at the INPI on 10/12/2022. It awaits formal examination and publication in the RPI gazette.

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Latest action published by the INPI: 01/28/2025. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

RSP SYSTEMS A/S

DK

Inventors

A. P. (pessoa física)

DK

A. W. (pessoa física)

DK

S. L. (pessoa física)

DK

Technical data

Priority claims

GB

2116869.5 · 11/23/2021

Abstract

MÉTODO E SISTEMA DE CALIBRAÇÃO. A invenção provê um sistema e método de calibração de um modelo usado em um dispositivo para medição in vivo não invasiva de uma concentração de analito usando espectroscopia Raman, o dispositivo compreendendo: uma fonte óptica para prover um sinal óptico e um detector óptico para receber uma saída óptica espalhada de Raman, o método compreendendo: em resposta à fonte de laser sendo direcionada para a pele de um usuário, coletar radiação espalhada de Raman da pele do usuário e com base nisso, calibrar o modelo com base em dados de referência e nos espectros Raman recebidos durante um período prolongado de dias, tal como 10 dias ou mais.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

01/28/2025

RPI 2821

Alteração de dados cadastrais

#1.1

06/04/2024

RPI 2787

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