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DISPOSITIVO DE ANÁLISE DE ELETRÓLITOS, E, MÉTODO DE ANÁLISE DE ELETRÓLITOS

Em ExigênciaInvention PatentPCT · JP2023003596

Application data

Invention Patent DISPOSITIVO DE ANÁLISE DE ELETRÓLITOS, E, MÉTODO DE ANÁLISE DE ELETRÓLITOS de OMRON HEALTHCARE CO., LTD. — IPC G01N 27/26
Invention Patent DISPOSITIVO DE ANÁLISE DE ELETRÓLITOS, E, MÉTODO DE ANÁLISE DE ELETRÓLITOS de OMRON HEALTHCARE CO., LTD. — IPC G01N 27/26. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.

Number

112024002727

Type

Invention Patent

Filing

02/03/2023

Publication

05/14/2024

PCT

JP2023003596

Progress at the INPI

Technical opinion to answer
  1. Filing02/03/23
  2. Publication05/14/24
  3. Examination
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

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Latest action published by the INPI: 02/18/2026. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

OMRON HEALTHCARE CO., LTD.

JP

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Inventors

H. Y. (pessoa física)

JP

K. K. (pessoa física)

JP

M. M. (pessoa física)

JP

S. F. (pessoa física)

JP

T. K. (pessoa física)

JP

Technical data

Priority claims

JP

2022-024118 · 02/18/2022

Abstract

DISPOSITIVO DE ANÁLISE DE ELETRÓLITOS, E, MÉTODO DE ANÁLISE DE ELETRÓLITOS. Este dispositivo de análise de solução eletrolítica compreende: um substrato (31) que se estende em uma direção; camadas de eletrodos principais (43, 44) que são fornecidas em uma superfície principal do substrato (31) e que incluem uma peça de base principal e uma peça de extensão principal; um filme de seleção de íons colocado em contato com a peça de base principal de modo a cobrir a peça de base principal; e uma camada de eletrodo auxiliar (48) que é fornecida na superfície principal do substrato (31) e que inclui uma peça de base auxiliar (46) e uma peça de extensão auxiliar. Em um estado no qual uma solução eletrolítica é colocada em contato de modo a cobrir o lado de uma extremidade (31e) do substrato (31), uma unidade determinante de separação (11, 14) adquire o potencial da peça de base principal através da peça de extensão principal, e adquire o potencial da peça de base auxiliar (46) através da peça de extensão auxiliar. É feita uma determinação, com base na diferença de potencial entre o potencial da peça de base principal e o potencial da peça de base auxiliar que foi adquirida, se o filme de seleção de íons se separou da peça de base principal.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Parecer de pré-exame

#6.23

02/18/2026

RPI 2876

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

05/14/2024

RPI 2784

Alteração de dados cadastrais

#1.1

02/20/2024

RPI 2772

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