DISPOSITIVO DE AMOSTRAGEM DE PARTÍCULAS FINAS E MÉTODO DE AMOSTRAGEM DE PARTÍCULAS FINAS

IPC Classification

Priority claims

Abstract

DISPOSITIVO DE AMOSTRAGEM DE PARTÍCULAS FINAS E MÉTODO DE AMOSTRAGEM DE PARTÍCULAS FINAS. A presente invenção refere-se a um dispositivo de amostragem de partículas finas (10) que inclui um primeiro eletrodo (22) com um formato de tubo e que tem uma primeira abertura posicionada em uma primeira extremidade do tubo em uma direção axial e uma segunda abertura posicionada em uma segunda extremidade do tubo na direção axial; um segundo eletrodo (24) que se estende na direção axial e é disposto no interior do primeiro eletrodo para ser espaçado de uma superfície interna do primeiro eletrodo; um terceiro eletrodo (25) que se estende na direção axial e é disposto no interior do primeiro eletrodo para ser espaçado da superfície interna, sendo o terceiro eletrodo mais espesso do que o segundo eletrodo, o terceiro eletrodo está em uma posição que difere da posição do segundo eletrodo na direção axial; um reservatório (28) que fornece um líquido ao interior do primeiro eletrodo e faz com que o líquido seja armazenado em uma parte da superfície interna, em uma direção em torno do eixo do primeiro eletrodo; um aplicador de tensão (26) que aplica uma primeira tensão a uma folga entre o primeiro eletrodo e o segundo eletrodo e uma segunda tensão a uma folga entre o primeiro eletrodo e o terceiro eletrodo; um acionador (32) que faz com que o primeiro eletrodo gire em torno de um eixo rotativo que se estende na direção axial e passa pelo interior do primeiro eletrodo; e um recuperador (30) que recupera o líquido armazenado.