Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
10/03/2023
RPI 2752
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Official data from INPI
AMOSTRAGEM COM BASE EM PONTOS-CHAVES PARA ESTIMAÇÃO DE POSE
Em AnáliseInvention PatentPCT · US2022013754
Application data
Number
112023018094Type
Invention Patent
Filing
01/25/2022
Publication
10/03/2023
PCT
US2022013754 Progress at the INPI
- Filing01/25/22
- Publication
- Examination
- Allowance
- Grant
- In force
The application was filed at the INPI on 01/25/2022. It awaits formal examination and publication in the RPI gazette.
Latest action published by the INPI: 10/03/2023. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants and inventors
Applicants
QUALCOMM TECHNOLOGIES, INC.
US
Inventors
C. A. (pessoa física)
US
S. H. (pessoa física)
US
V. L. (pessoa física)
US
Technical data
IPC Classification
Priority claims
US
17/457,408 · 12/02/2021
US
63/162,305 · 03/17/2021
Abstract
AMOSTRAGEM COM BASE EM PONTOS-CHAVES PARA ESTIMAÇÃO DE POSE.Sistemas e técnicas são fornecidos para determinar uma ou mais poses de um ou mais objetos. Por exemplo, um processo pode incluir determinar, com utilização de um sistema de aprendizado de máquina, uma pluralidade de pontos-chaves proveniente de uma imagem. A pluralidade de pontos-chaves está associada a pelo menos um objeto na imagem. O processo pode incluir determinar uma pluralidade de características do sistema de aprendizado de máquina com base na pluralidade de pontos-chaves. O processo pode incluir classificar a pluralidade de características em uma pluralidade de tipos de articulação. O processo pode incluir determinar parâmetros de pose para pelo menos um objeto com base na pluralidade de tipos de articulação.
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
Alteração de dados cadastrais
#1.1
09/19/2023
RPI 2750
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