DISPOSITIVO, MÉTODO E SISTEMA DE DETERMINAÇÃO DE ANORMALIDADE, DISPOSITIVO DE SERVIDOR DE DETERMINAÇÃO DE ANORMALIDADE, DISPOSITIVO DE TERMINAL DE EXIBIÇÃO E MEMÓRIAS LIDAS POR UM PROCESSADOR

IPC Classification

Priority claims

Abstract

DISPOSITIVO, MÉTODO E SISTEMA DE DETERMINAÇÃO DE ANORMALIDADE E MÉTODO DE OPERAÇÃO DE ALTO-FORNO, DISPOSITIVO DE SERVIDOR DE DETERMINAÇÃO DE ANORMALIDADE, DISPOSITIVO DE TERMINAL DE EXIBIÇÃO E MEMÓRIAS LIDAS POR UM COMPUTADOR. Um dispositivo de determinação de anormalidade de alto-forno de acordo com a presente invenção inclui: uma unidade de medição de distribuição de temperatura que mede uma distribuição de temperatura imediatamente acima de uma superfície de carregamento de matéria-prima em um alto-forno; uma unidade de análise de componente de gás que analisa um componente de um gás no alto-forno; uma unidade de acumulação de dados que acumula informações sobre a distribuição de temperatura medida pela unidade de medição de distribuição de temperatura e um resultado de análise da unidade de análise de componente de gás; uma unidade de cálculo de estatística de distribuição de temperatura que calcula uma estatística para determinar se a distribuição de temperatura medida pela unidade de medição de distribuição de temperatura é normal ou não com base em um resultado obtido ao realizar análise de componente principal nas informações da distribuição de temperatura do alto-forno em um estado normal acumulado na unidade de acumulação de dados; e uma unidade de determinação de anormalidade que determina se ocorreu ou não uma anormalidade no alto-forno ao avaliar a estatística calculada pela unidade de cálculo da estatística de distribuição de temperatura e o resultado de análise da unidade de análise de componente de gás em associação um com o outro.