MAPEAMENTO E REMOÇÃO DE UM DEFEITO DE UM MATERIAL TRAMADO

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Abstract

MAPEAMENTO E REMOÇÃO DE UM DEFEITO DE UM MATERIAL TRAMADO.O presente se refere a um dispositivo para mapear pelo menos um defeito em um material tramado compreendendo uma estação de mapeamento que compreende dois módulos denominados um primeiro módulo e um segundo módulo e um módulo de computação, sendo o primeiro módulo disposto para marcar a trama com pelo menos um marca de referência em uma posição conhecida e para determinar a posição inicial do referido defeito, e o segundo módulo sendo disposto para detectar uma nova posição da marca de referência quando a referida marca de referência é lida pelo referido segundo módulo, o módulo de computação sendo disposto para calcular um deslocamento da marca de referência para determinar uma posição final do defeito detectado na segunda estação com base no deslocamento calculado da marca de referência. A invenção refere-se ainda a um sistema, um método para mapeamento e um método para remover um defeito.