Concessão da patente
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 30/11/2020, observadas as condições legais
01/31/2023
RPI 2717
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Official data from INPI
DISPOSITIVOS E MÉTODOS PARA MICROSCOPIA DE VARREDURA DE LINHA
ConcedidaInvention PatentPCT · EP2020083951
Application data
Number
112022010897Type
Invention Patent
Filing
11/30/2020
Publication
09/06/2022
PCT
EP2020083951 Progress at the INPI
- Filing11/30/20
- Publication09/06/22
- Examination
- Allowance11/22/22
- Grant01/31/23
- In force11/30/40
The patent was granted on 01/31/2023 and is in force until 11/30/2040. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.
Protection valid until:11/30/2040
Latest action published by the INPI: 01/31/2023. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants and inventors
Applicants
D. M. (pessoa física)
FR
Inventors
J. O. (pessoa física)
FR
Technical data
IPC Classification
Priority claims
FR
FR1913670 · 12/03/2019
Abstract
DISPOSITIVOS E MÉTODOS PARA MICROSCOPIA DE VARREDURA DE LINHA.A presente descrição refere-se a um dispositivo (200) para microscopia tomográfica de coerência óptica de varredura de linha. O dispositivo compreende um microscópio interferométrico (201) compreendendo um braço de referência, um braço de objeto configurado para receber um objeto (10), um divisor de feixe (204) acoplando o referido braço de objeto e braço de referência a uma fonte de luz (210) e a um sensor (222), e uma primeira objetiva microscópica (202) disposta no referido braço de objeto. Compreende ainda um dispositivo de filtragem espacial confocal unidimensional configurado para interagir com a referida fonte de luz, a fim de iluminar o referido objeto ao longo de uma linha focal localizada em um espaço de objeto da primeira objetiva microscópica e um dispositivo (235, 237) para varredura unidirecional da referida linha focal, cujo dispositivo está disposto no braço de objeto à montante da referida primeira objetiva microscópica e é configurado para varrer a linha focal em uma direção lateral (y) substancialmente perpendicular a um eixo óptico (z) da referida primeira objetiva microscópica.
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
Deferimento
#9.1
11/22/2022
RPI 2707
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
09/06/2022
RPI 2696
28.30
Concedido o trâmite prioritário requerido através da petição nº 870220059847, de 07/07/2022, haja vista que atende ao disposto nos artigos 3º, 4º e 5º da Portaria INPI PR nº 55, de 15/12/21, publicada na RPI 2662, de 11/01/22.
07/26/2022
RPI 2690
28.10.32
Notificação de requerimento de trâmite prioritário de PPH, conforme protocolo nº 870220059847, de 07/07/2022
07/19/2022
RPI 2689
Alteração de dados cadastrais
#1.1
06/14/2022
RPI 2684
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