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Official data from INPI

MÉTODO IMPLEMENTADO POR MEIOS DE COMPUTADOR PARA CARACTERIZAR ELEMENTOS ÓPTICOS E VERIFICAR A CONFORMIDADE DE UM ELEMENTO DE LENTE, MÉTODO PARA CONTROLAR UM PROCESSO DE FABRICAÇÃO DE ELEMENTOS DE LENTE

ConcedidaInvention PatentPCT · EP2020078003

Application data

Number

112022000943

Type

Invention Patent

Filing

10/06/2020

Publication

06/28/2022

PCT

EP2020078003

Progress at the INPI

  1. Filing10/06/20
  2. Publication06/28/22
  3. Examination
  4. Allowance05/05/26
  5. Grant05/26/26
  6. In force10/06/40

The patent was granted on 05/26/2026 and is in force until 10/06/2040. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:10/06/2040

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Latest action published by the INPI: 05/26/2026. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

E. I. (pessoa física)

FR

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Inventors

C. L. (pessoa física)

FR

E. G. (pessoa física)

FR

M. C. (pessoa física)

FR

M. G. (pessoa física)

FR

Technical data

IPC Classification

Priority claims

EP

19306294.0 · 10/07/2019

Abstract

CARACTERIZAÇÃO DE UM ELEMENTO ÓPTICO.Método implementado por meios de computador para caracterizar elementos ópticos de um elemento de lente adaptado para uma pessoa, o elemento de lente compreendendo: - um suporte compreendendo uma área de refração tendo uma potência refrativa baseada em uma prescrição para corrigir uma refração anormal de um olho da pessoa; e- uma pluralidade de elementos ópticos configurados de modo a pelo menos um de desacelerar, retardar ou impedir um progresso da refração anormal do olho da pessoa;em que o método compreende a obtenção de uma representação bidimensional da potência óptica local do elemento de lente usando um método de deflectometria de contorno e em que as imagens utilizadas para o método de deflectometria de contorno consistem em píxeis menores ou iguais a 0,05 mm x 0,05 mm.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 06/10/2020, observadas as condições legais

05/26/2026

RPI 2890

Deferimento

#9.1

05/05/2026

RPI 2887

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

01/06/2026

RPI 2870

Parecer de pré-exame

#6.23

09/02/2025

RPI 2852

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

06/28/2022

RPI 2686

Exigências diversas

#1.5

Apresentar a tradução simples da folha de rosto da certidão de depósito da prioridade EP 19306294.0 de 07/10/2019 ou declaração contendo, obrigatoriamente, todos os dados identificadores desta conforme o Art. 15 da Portaria 39/2021. Os documentos apresentados não estão traduzidos e a declaração não contém os dados identificadores da prioridade.

04/19/2022

RPI 2676

Alteração de dados cadastrais

#1.1

01/25/2022

RPI 2664

Patent monitoring

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