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Official data from INPI

MÓDULO DE MEDIÇÃO POR LASER E RADAR DE LASER

ConcedidaInvention PatentPCT · CN2019129585

Application data

Number

112021012787

Type

Invention Patent

Filing

12/28/2019

Publication

09/14/2021

PCT

CN2019129585

Progress at the INPI

  1. Filing12/28/19
  2. Publication09/14/21
  3. Examination
  4. Allowance04/08/25
  5. Grant06/24/25
  6. In force12/28/39

The patent was granted on 06/24/2025 and is in force until 12/28/2039. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:12/28/2039

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Latest action published by the INPI: 06/24/2025. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD.

CN

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Inventors

G. S. (pessoa física)

CN

L. Z. (pessoa física)

CN

X. X. (pessoa física)

CN

Technical data

IPC Classification

Priority claims

CN

201811639922.1 · 12/29/2018

CN

201910581553.3 · 06/29/2019

Abstract

MÓDULO DE MEDIÇÃO DE LASER E RADAR DE LASER.A presente invenção refere-se a módulo de medição de laser e radar de laser, aplicáveis nos campos de direção automática, direção inteligente e similares. No módulo de medição de laser, N conjuntos de alcance de laser são utilizados para fazer um feixe de luz emergente ser incidente em um espelho de reflexão; o espelho de reflexão é utilizado para girar um percurso de luz do feixe de luz emergente e tornar o feixe de luz emergente girado ser incidente em um microgalvanômetro de MEMS, o microgalvanômetro de MEMS é utilizado para mudar a direção do feixe de luz emergente e realizar escaneamento bidimensional, e é também utilizado para mudar a direção de um feixe de luz de eco e fazer o feixe de luz de eco ser incidente no espelho de reflexão, em que o feixe de luz de eco é um feixe de luz refletido após o feixe de luz emergente ser incidente em um objeto alvo; o espelho de reflexão é também utilizado para girar um percurso de luz do feixe de luz de eco e fazer o feixe de luz de eco girado ser incidente nos N conjuntos de alcance de laser; e os N conjuntos de alcance de laser são também utilizados para receber o feixe de luz de eco e executar o alcance de acordo com uma diferença de tempo entre o feixe de luz emergente e o feixe de luz de eco.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 28/12/2019, observadas as condições legais

06/24/2025

RPI 2842

Deferimento

#9.1

04/08/2025

RPI 2831

28.30

Concedido o trâmite prioritário requerido através da petição nº 870250009135, de 04/02/2025, haja vista que atende ao disposto nos artigos 3º, 4º e 5º da Portaria/INPI/PR nº 48, de 29/11/2024, publicada na RPI 2814, de 10/12/2024.

02/25/2025

RPI 2825

28.10.32

Notificação de requerimento de trâmite prioritário de PPH, conforme protocolo n° 870250009135, de 04/02/2025

02/18/2025

RPI 2824

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

09/14/2021

RPI 2645

Alteração de dados cadastrais

#1.1

07/06/2021

RPI 2635

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