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Official data from INPI

APARELHO E MÉTODO PARA ANALISAR UMA AMOSTRA.

ArquivadaInvention PatentPCT · SE2019050703

Application data

Number

112021001865

Type

Invention Patent

Filing

07/18/2019

Publication

04/27/2021

PCT

SE2019050703

Progress at the INPI

  1. Filing07/18/19
  2. Publication04/27/21
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned: the INPI technical office action was not answered in time (art. 36 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.

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Latest action published by the INPI: 12/10/2024. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

OREXPLORE AB

SE

Inventors

A. H. (pessoa física)

SE

M. B. (pessoa física)

SE

Technical data

Priority claims

SE

1850954-7 · 08/03/2018

Abstract

Um aparelho (100) para analisar uma amostra (101) compreendendo uma amostra de núcleo de perfuração ou resíduos de perfuração é provido. O aparelho compreende uma unidade de dados de estrutura geológica com raios X configurada para varrer a amostra para obter um conjunto de dados indicando um volume da amostra, um detector de fluorescência (109) configurado para medir radiação fluorescente que emana da amostra (101) quando irradiada pelo feixe de raios X, e uma unidade de pesagem (105) configurada para pesar a amostra. O aparelho compreende adicionalmente uma unidade de processamento (104) configurada para calcular uma densidade da amostra (101) com base no conjunto de dados obtido pela unidade de dados de estrutura geológica com raios X, na radiação fluorescente medida pelos detectores de fluorescência e no peso provido pela unidade de pesagem.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI

#11.2

12/10/2024

RPI 2814

Parecer de pré-exame

#6.23

08/27/2024

RPI 2799

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

04/27/2021

RPI 2625

Alteração de dados cadastrais

#1.1

02/09/2021

RPI 2614

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