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Official data from INPI

SISTEMA DE MONITORAMENTO DE PLANTA

ConcedidaInvention PatentPCT · JP2019025163

Application data

Number

112021001101

Type

Invention Patent

Filing

06/25/2019

Publication

01/18/2022

PCT

JP2019025163

Progress at the INPI

  1. Filing06/25/19
  2. Publication01/18/22
  3. Examination
  4. Allowance09/09/25
  5. Grant11/11/25
  6. In force06/25/39

The patent was granted on 11/11/2025 and is in force until 06/25/2039. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:06/25/2039

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Latest action published by the INPI: 11/11/2025. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

T. C. (pessoa física)

JP

TOSHIBA MITSUBISHI-ELECTRIC INDUSTRIAL SYSTEMS CORPORATION

JP

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Inventors

N. M. (pessoa física)

JP

R. S. (pessoa física)

JP

T. S. (pessoa física)

JP

Technical data

IPC Classification

Abstract

DISPOSITIVO DE COLETA DE DADOS, SISTEMA DE MONITORAMENTO DE PLANTA E MÉTODO DE COLETADE DADOS. Um sistema de monitoramento de planta compreende: um dispositivo de coleta de dados que é configurado para coletar vários valores medidos durante uma inspeção de equipamento de planta; e uma parte de exibição de gráfico de tendência que é configurada para gerar um gráfico de tendência com base nos múltiplos valores medidos coletados pelo dispositivo de coleta de dados. O dispositivo de coleta de dados compreende: uma parte de coleta de valor medido que é configurada para coletar vários valores medidos; uma parte de atribuição de número de evento que é configurada para atribuir um mesmo número de evento aos múltiplos valores medidos se uma diferença de tempo entre os tempos em que os vários valores medidos foram adquiridos for menor do que uma diferença de tempo específica predeterminada e está configurada para atribuir um número de evento diferente aos múltiplos valores medidos se a diferença de tempo for maior ou igual que a diferença de tempo especificada; e uma parte de armazenamento de valor medido que é configurada para armazenar os múltiplos valores medidos em um estado associado ao número de evento atribuído e os múltiplos valores medidos. A parte de exibição de gráfico de tendência é configurada para apresentar os múltiplos valores medidos armazenados na parte de armazenamento de valor medido em um gráfico tendo o valor medido como um primeiro eixo e o número do evento como um segundo eixo.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 25/06/2019, observadas as condições legais

11/11/2025

RPI 2862

Alteração de nome deferida

#25.4

10/28/2025

RPI 2860

Deferimento

#9.1

09/09/2025

RPI 2853

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

05/20/2025

RPI 2837

Parecer de pré-exame

#6.23

10/08/2024

RPI 2805

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

01/18/2022

RPI 2663

Alteração de dados cadastrais

#1.1

02/02/2021

RPI 2613

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