MÉTODO E PLANTA PARA LOCALIZAR PONTOS EM UMA SUPERFÍCIE COMPLEXA NO ESPAÇO

IPC Classification

Priority claims

Abstract

Trata-se de uma planta 10 para localizar pontos (por exemplo, defeitos) em uma superfície espacial complexa que compreende uma estação de detecção de defeito (12), uma estação de localização (21) (que pode coincidir com a estação de inspeção) e, quando aplicável, uma estação de reparo (22). Na estação de detecção (12), há um conjunto de aquisições de imagem (25) que é movido por um posicionador (15) ao longo de uma trajetória predeterminada na superfície complexa com a finalidade de adquirir nos instantes "I", definidos por meio de um algoritmo adequado, imagens bidimensionais da superfície complexa ao longo da trajetória. Nos instantes "I", as coordenadas espaciais de um ponto predefinido do conjunto de aquisições (25) também são associadas à imagem bidimensional. Defeitos são buscados na pluralidade de imagens adquirida e suas coordenadas X, Y na imagem bidimensional são transformadas nas coordenadas espaciais x,y,z na superfície complexa (denominada aqui "processo de localização de defeito").