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MÉTODO PARA CAPTURAR E MAPEAR DADOS DE DESEMPENHO DE EQUIPAMENTOS E SISTEMA DE PARAMETRIZAÇÃO PARA CAPTURAR E MAPEAR DADOS DE DESEMPENHO DE EQUIPAMENTOS

ConcedidaInvention PatentPCT · CA2016051420

Application data

Number

112019011335

Type

Invention Patent

Filing

12/02/2016

Publication

10/15/2019

PCT

CA2016051420

Applicants and inventors

Applicants

S.A. ARMSTRONG LIMITED

CA

Inventors

O. A. (pessoa física)

CA

P. T. (pessoa física)

CA

Technical data

IPC Classification

Abstract

Mapeamento do desempenho de parâmetros de desempenho de equipamentos por captura, mapeamento e/ou estruturação de dados de desempenho de equipamentos de um dispositivo para instalação em um sistema. Isso inclui gerar mapas de desempenho que descrevam o comportamento esperado dos parâmetros de desempenho de recursos do equipamento com base em um conjunto de parâmetros operacionais que capturam as condições de operação. Cada parâmetro de desempenho no mapa é representativo de um ponto operacional de condições operacionais específicas tomadas em um determinado ponto no tempo. Em um exemplo, um parâmetro de desempenho pode ser definido por um conjunto individualizado de coeficientes de parâmetros que, por sua vez, são dependentes de condições operacionais instantâneas. Com os mapas de desempenho determinados individualmente para dispositivos como parte do sistema, e armazenados junto com o tempo de testes, podem ser realizadas atividades como comissionamento contínuo, monitoramento e verificação, manutenção preventiva, detecção de falhas e diagnósticos, bem como análise comparativa de desempenho de energia e monitoramento de longo prazo.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 02/12/2016, observadas as condições legais

12/13/2022

RPI 2710

Deferimento

#9.1

10/11/2022

RPI 2701

Adição na publicação

#15.35

10/13/2021

RPI 2649

Exigência preliminar

#6.21

06/02/2020

RPI 2578

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

10/15/2019

RPI 2545

Alteração de dados cadastrais

#1.1

06/11/2019

RPI 2527

Patent monitoring

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