Adição na publicação
#15.35
09/08/2021
RPI 2644
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Official data from INPI
MÉTODO E SISTEMA PARA IDENTIFICAR E MEDIR UM DEFEITO QUE REDUZ A TRANSPARÊNCIA EM UM SUBSTRATO PARA UM DOCUMENTO DE SEGURANÇA
ArquivadaInvention PatentPCT · AU2017050392
Application data
Number
112018070502Type
Invention Patent
Filing
04/28/2017
Publication
01/29/2019
PCT
AU2017050392 Progress at the INPI
- Filing04/28/17
- Publication01/29/19
- Abandoned
- Allowance
- Grant
- In force
The application was abandoned: examination was not requested within the 36 months following the 04/28/2017 filing, the deadline set by art. 33 of the Brazilian IP Act. The technology is in the public domain in Brazil.
Talk to a specialistLatest action published by the INPI: 09/08/2021. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants and inventors
Applicants
CCL SECURE PTY LTD
AU
Inventors
B. S. (pessoa física)
AU
D. P. (pessoa física)
AU
Technical data
IPC Classification
Priority claims
AU
2016100492 · 04/29/2016
Abstract
A presente invenção se refere a um método para medir um nível de defeito de uma região de um substrato para um documento de segurança, em que o nível de defeito está associado à transparência reduzida da região do substrato, o método incluindo as etapas de: gerar digitalmente a região para criar uma imagem digital, a imagem digital contendo dados de intensidade de luz; e analisar a imagem digital incluindo: o cálculo de uma medida estatística dos dados de intensidade de luz na região; e atribuir uma pontuação de defeito à região com base na medida estatística dos dados de intensidade de luz na região.
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI
#11.1.1
11/10/2020
RPI 2601
Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
07/28/2020
RPI 2586
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
01/29/2019
RPI 2508
Alteração de dados cadastrais
#1.1
10/16/2018
RPI 2493
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