MÉTODO PARA O ESTADO DE OBSERVAÇÃO DE TRAJETO ÓPTICO EM ESPECTROSCOPIA DE EMISSÃO ÓPTICA DE UMA AMOSTRA E PRODUTO DE PROGRAMA DE COMPUTADOR PARA UM DISPOSITIVO DE PROCESSAMENTO

IPC Classification

Priority claims

Abstract

A invenção refere-se a um método para observação de um trajeto óptico em espectroscopia de emissão óptica de uma amostra (1). O método compreende uma etapa de cálculo para (i) calcular uma primeira relação entre uma primeira linha de emissão gerada em uma primeira etapa de análise e uma segunda linha de emissão gerada em uma primeira etapa de análise e para (ii) calcular uma segunda relação entre uma primeira linha de emissão subsequente gerada em uma segunda etapa de análise e uma segunda linha de emissão subsequente gerada em a segunda etapa de análise e para (iii) calcular uma diferença entre a primeira relação e a segunda razão para obter uma diferença de intensidade calculada, a diferença de intensidade calculada sendo indicativa da limpeza do caminho óptico. A invenção refere-se também a um produto de programa de computador para um dispositivo de processamento.