Concessão da patente
#16.1
20 (vinte) anos contados a partir de 17/05/2016, observadas as condições legais
04/13/2021
RPI 2623
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Official data from INPI
SISTEMA PARA MEDIR AS CARACTERÍSTICAS ÓPTICAS DE UMA PLACA DE VIDRO CURVADA E MÉTODO PARA MEDIR AS CARACTERÍSTICAS ÓPTICAS DE UMA PLACA DE VIDRO CURVADA
ConcedidaInvention PatentPCT · US2016032837
Application data
Number
112017028018Type
Invention Patent
Filing
05/17/2016
Publication
08/28/2018
PCT
US2016032837 Progress at the INPI
- Filing05/17/16
- Publication08/28/18
- Examination
- Allowance02/09/21
- Grant04/13/21
- In force05/17/36
The patent was granted on 04/13/2021 and is in force until 05/17/2036. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.
Protection valid until:05/17/2036
Latest action published by the INPI: 04/13/2021. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants and inventors
Applicants
GLASSTECH, INC.
US
Inventors
B. M. (pessoa física)
US
J. A. (pessoa física)
US
M. V. (pessoa física)
US
Technical data
IPC Classification
Priority claims
US
14/752,033 · 06/26/2015
Abstract
Um sistema para medir distorção óptica numa placa de vidro contornada inclui um transportador para transportar a placa de vidro numa primeira direção, pelo menos uma tela que projeta um padrão de contraste multifásico não repetido pré-selecionado e, pelo menos, uma câmera, cada uma das câmeras emparelhadas unicamente com uma das telas. O sistema também pode incluir um controle programado para executar lógica para controlar cada uma das câmeras para adquirir as imagens pretendidas e lógica para analisar e combinar os dados adquiridos pelas câmeras para construir uma definição da superfície da placa de vidro e lógica para realizar uma ou mais operações de processamento óptico nos dados de superfície para analisar as características ópticas da placa de vidro.
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
Deferimento
#9.1
02/09/2021
RPI 2614
Exigência preliminar
#6.21
06/16/2020
RPI 2580
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
08/28/2018
RPI 2486
Alteração de dados cadastrais
#1.1
04/03/2018
RPI 2465
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