CHIP DE RASTREAMENTO DE NANOPARTÍCULAS, MÉTODO PARA O RASTREAMENTO DE NANOPARTÍCULAS PARA DETERMINAR AS PROPRIEDADES FÍSICAS DAS MESMAS, DISPOSITIVO DE LEITURA DE CHIPS PARA RASTREAMENTO DE NANOPARTÍCULAS E USO DE UM CHIP DE RASTREAMENTO DE NANOPARTÍCULAS

IPC Classification

Priority claims

Abstract

É revelado um chip de rastreamento de nanopartículas e um método que utiliza o referido chip permitindo a determinação das propriedades físicas das nanopartículas, em que o chip de rastreamento compreende um substrato que tem uma superfície de trabalho dividida em uma pluralidade de áreas, em que (1) cada uma destas áreas apresenta diferentes propriedades de superfície definidas pela componente energia superficial (d, b, a), o total de energia livre y TOT da superfície de cada área sendo definido como se segue: y TOT = y LW + 2 (y + y - ) 0,5 , em que os componentes são os seguintes: y LW = componente dispersiva = d, y + = componente aceptor de elétrons = b, y - = componente doador de elétrons ou componente = a ; e (2) cada uma destas áreas compreende uma pluralidade de sub-áreas, cada sub-área compreendendo uma matriz de orifícios sub-micrométricos ou ranhuras alongadas com um tamanho de abertura diferente (S1, S2, S3, ...).