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MÉTODO PARA A CAPTURA SIMULTÂNEA DE DADOS DE IMAGEM EM MÚLTIPLAS PROFUNDIDADES DE UMA AMOSTRA E SISTEMA DE IMAGEAMENTO PARA A CAPTURA SIMULTÂNEA DE DADOS DE IMAGEM DE UMA AMOSTRA EM MÚLTIPLAS PROFUNDIDADES

ArquivadaInvention PatentPCT · EP2015079331

Application data

Number

112016019931

Type

Invention Patent

Filing

12/11/2015

Publication

08/15/2017

PCT

EP2015079331

Progress at the INPI

  1. Filing12/11/15
  2. Publication08/15/17
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned: examination was not requested within the 36 months following the 12/11/2015 filing, the deadline set by art. 33 of the Brazilian IP Act. The technology is in the public domain in Brazil.

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Latest action published by the INPI: 08/03/2021. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

KONINKLIJKE PHILIPS N.V.

NL

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Inventors

B. H. (pessoa física)

NL

Technical data

Priority claims

EP

14199531.6 · 12/22/2014

Abstract

MÉTODO PARA A CAPTURA SIMULTÂNEA DE DADOS DE IMAGEM EM MÚLTIPLAS PROFUNDIDADES DE UMA AMOSTRA E SISTEMA DE IMAGEAMENTO PARA A CAPTURA SIMULTÂNEA DE DADOS DE IMAGEM DE UMAAMOSTRA EM MÚLTIPLAS PROFUNDIDADES. É apresentado um método inovador para possibilitar a captura simultânea de dados de imagem de múltiplas profundidades de uma amostra volumétrica. O método possibilita a captura contínua de uma imagem 2D ou 3D, ao mesmo tempo em que é feita dinamicamente uma alteração da profundidade de captura na amostra. Este método pode ser usado também para focalização automática. Adicionalmente, este método de captura de dados de imagem da amostra possibilita eficiência ideal em termos de velocidade, e sensibilidade à luz, especificamente para o propósito aqui mencionado de imageamento 2D ou 3D de amostras com o uso de uma configuração inclinada, conforme mostrado na Figura 2. O método pode ser usado particularmente com um sensor de imageamento que compreende uma matriz de pixels 2D em um sistema de coordenadas ortogonais XY onde existem lacunas para circuitos eletrônicos. Outros sensores de imageamento também podem ser usados. Além disso, é apresentado um dispositivo de imageamento que executa automaticamente o método da presente invenção.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Adição na publicação

#15.35

08/03/2021

RPI 2639

Adição na publicação

#15.35

07/20/2021

RPI 2637

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

03/19/2019

RPI 2515

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

01/02/2019

RPI 2504

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

Publicação automática da admissibilidade da fase nacional depositado via PCT . Tratado de cooperação em matéria de Patentes, conforme Instrução Normativa nº 02, de 06/06/2017 publicada na RPI nº 2422, de 06/06/2017.

08/15/2017

RPI 2432

Alteração de dados cadastrais

#1.1

11/01/2016

RPI 2391

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