(11) 98705-3426
TrademarkIQ iconTrademarkIQ
Back to search
Official data from INPI

MÉTODO PARA MEDIR UMA RESISTÊNCIA DE UM ELEMENTO E CIRCUITO PARA USO EM UM MEDIDOR DE ELETRICIDADE

ConcedidaInvention PatentPCT · US2014044754

Application data

Number

112015032630

Type

Invention Patent

Filing

06/27/2014

Publication

07/25/2017

PCT

US2014044754

Progress at the INPI

  1. Filing06/27/14
  2. Publication07/25/17
  3. Examination
  4. Allowance10/05/21
  5. Grant12/07/21
  6. In force06/27/34

The patent was granted on 12/07/2021 and is in force until 06/27/2034. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:06/27/2034

Leave your contact and we will alert you

We track INPI publications and let you know as soon as this case moves.

We use your details only for this alert.

Latest action published by the INPI: 12/07/2021. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

LANDIS+GYR, INC.

US

LANDIS+GYR LLC

US

LANDIS+GYR TECHNOLOGY, INC.

US

Inventors

J. V. (pessoa física)

US

Technical data

IPC Classification

Priority claims

US

13/931,349 · 06/28/2013

Abstract

MEDIÇÃO DE RESISTÊNCIA ELEMENTO EM UM MEDIDOR DE ENERGIA ELÉTRICA.Um método mede a resistência de um elemento que está operacionalmente acoplada para receber uma tensão de linha AC. O método inclui a obtenção de um valor de medição de tensão a partir de um primeiro V1A primeiro lado do elemento, numa primeira vez, e obtenção de uma segunda medição de tensão a partir de um valor V2A segundo lado do elemento na primeira vez. O método também inclui a obtenção de um primeiro valor de medição de corrente IA através do elemento na primeira vez, e obter um segundo valor de medição de corrente IB através do elemento na segunda vez. O método inclui ainda a obtenção de uma terceira tensão de V1B valor de medição a partir do primeiro lado do elemento a uma segunda vez, e a obtenção de uma medição de tensão quarta valor V2B a partir do segundo lado do elemento na segunda vez. O dispositivo de processamento determina a resistência de, pelo menos, em parte com base nos valores V1A, V2A, V1B, V2b, IA e IB. A determinação baseada em uma diferença ajustada de V2B e V2A.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 27/06/2014, observadas as condições legais

12/07/2021

RPI 2657

Deferimento

#9.1

10/05/2021

RPI 2648

Adição na publicação

#15.35

07/20/2021

RPI 2637

Transferência deferida

#25.1

11/17/2020

RPI 2602

Alteração de nome deferida

#25.4

10/27/2020

RPI 2599

Exigência preliminar

#6.21

03/03/2020

RPI 2565

Retificação da notificação da fase nacional - PCT

#1.3.1

Feita a retificação do despacho 1.3, publicado na RPI 2429 de 25/07/2017, referente ao item 54.

01/14/2020

RPI 2558

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

11/06/2018

RPI 2496

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

Publicação automática da admissibilidade da fase nacional depositado via PCT . Tratado de cooperação em matéria de Patentes, conforme Instrução Normativa nº 02, de 06/06/2017 publicada na RPI nº 2422, de 06/06/2017.

07/25/2017

RPI 2429

Alteração de dados cadastrais

#1.1

01/12/2016

RPI 2349

Patent monitoring

Track this patent in real time.

Receive alerts on INPI events, decisions, and expiry dates for your portfolio.