Adição na publicação
#15.35
08/17/2021
RPI 2641
Application data
Number
112015027351Type
Filing
Publication
PCT
FR2014051042 The application was allowed on 03/03/2020 but abandoned for failure to pay the grant fee (art. 38 of the Brazilian IP Act). The letters patent were never issued.
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Applicants
MSC & SGCC
FR
Inventors
E. P. (pessoa física)
FR
L. F. (pessoa física)
FR
M. L. (pessoa física)
FR
IPC Classification
Priority claims
FR
13 54107 · 05/03/2013
Abstract
MÉTODO DE OBSERVAÇÃO E ANÁLISE E DISPOSITIVO PARA OBSERVAR E ANALISAR SINGULARIDADES ÓPTICAS.A invenção refere-se a um método para observar e analisar singularidades ópticas, consistindo: em iluminar o exterior do recipiente usando uma superfície luminosa (6) que é axialmente simétrica em relação a um eixo geométrico vertical (Z) paralelo ao eixo geométrico de simetria dos recipientes, uma variação de uma propriedade da emissão sendo detectável por um ou mais sistemas de aquisição (11) ao longo de uma geratriz da superfície luminosa; no caso de recipientes de baixa transmissão, ao formar imagem da porção do recipiente com o dispositivo de aquisição de imagem recebendo feixes de luz originados daquela porção da superfície luminosa (6) que está localizada do mesmo lado do recipiente; ou, no caso de recipientes de alta transmissão, ao formar imagem da porção do recipiente com o dispositivo de aquisição de imagem recebendo feixes de luz originados daquela porção da superfície luminosa (6) que é radialmente oposta em relação ao recipiente.
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
#15.35
08/17/2021
RPI 2641
#11.4
09/01/2020
RPI 2591
#9.1
03/03/2020
RPI 2565
#6.21
11/12/2019
RPI 2549
#6.6.1
11/13/2018
RPI 2497
#1.3
09/12/2017
RPI 2436
#1.1
12/08/2015
RPI 2344
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