Concessão da patente
#16.1
20 (vinte) anos contados a partir de 30/04/2014, observadas as condições legais
02/22/2022
RPI 2668
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Official data from INPI
MÉTODO E SISTEMA PARA DETERMINAR A ESTRUTURA ESPACIAL DE UM OBJETO, MÉTODO PARA DETERMINAR O EFEITO ÓPTICO DEPENDENTE DE LOCALIZAÇÃO E DIREÇÃO DE UM OBJETO E USO DE UM SISTEMA
ConcedidaInvention PatentPCT · EP2014058859
Application data
Number
112015024512Type
Invention Patent
Filing
04/30/2014
Publication
07/18/2017
PCT
EP2014058859 Progress at the INPI
- Filing04/30/14
- Publication07/18/17
- Examination
- Allowance12/21/21
- Grant02/22/22
- In force04/30/34
The patent was granted on 02/22/2022 and is in force until 04/30/2034. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.
Protection valid until:04/30/2034
Latest action published by the INPI: 02/22/2022. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants and inventors
Applicants
CARL ZEISS AG
DE
CARL ZEISS VISION INTERNATIONAL GMBH
DE
Inventors
A. H. (pessoa física)
DE
C. G. (pessoa física)
DE
L. O. (pessoa física)
DE
M. H. (pessoa física)
DE
Y. S. (pessoa física)
DE
Technical data
IPC Classification
Priority claims
DE
10 2013 208 090.5 · 05/02/2013
DE
10 2013 208 091.3 · 05/02/2013
DE
10 2013 219 838.8 · 09/30/2013
Abstract
RESUMOPatente de Invenção: "MÉTODO E SISTEMA PARA DETERMINAR A ESTRUTURA ESPACIAL DE UM OBJETO". A fim de determinar a estrutura espacial de um objeto, em particular, uma lente de óculos (612), um bloco em bruto de lente de óculos, ou um produto semiacabado de lente de óculos, sendo que o dito objeto tem uma primeira superfície opticamente ativa (614) e uma segunda superfície opticamente ativa (616), as seguintes etapas são realizadas: o objeto (612) é disposto em um dispositivo de retenção (610). A posição de pelo menos um ponto (P) na primeira superfície opticamente ativa (614) e a posição de pelo menos um ponto (P') na segunda superfície opticamente ativa (616) são referidas em um sistema de coordenadas que é fixado em relação ao dispositivo de retenção (610). A topografia da primeira superfície opticamente ativa (614) do objeto (612) é determinada em um sistema de coordenadas (659) que é referido ao dispositivo de retenção (610) por meio da posição do pelo menos um ponto (P) na primeira superfície opticamente ativa (614), e a estrutura espacial do objeto (612) é calculada a partir da topografia da primeira superfície opticamente ativa (614) e a partir de um conjunto de dados relativo à topografia da segunda superfície opticamente ativa (616), em que o conjunto de dados é referido ao sistema de coordenadas fixado (618) do dispositivo de retenção (610) por meio da posição do pelo menos um ponto (P') na segunda superfície opticamente ativa (616).
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
Deferimento
#9.1
12/21/2021
RPI 2659
Exigência preliminar
#6.21
04/07/2020
RPI 2570
Notificação de acesso ao patrimônio genético
#6.6.1
11/13/2018
RPI 2497
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
Publicação automática da admissibilidade da fase nacional depositado via PCT . Tratado de cooperação em matéria de Patentes, conforme Instrução Normativa nº 02, de 06/06/2017 publicada na RPI nº 2422, de 06/06/2017.
07/18/2017
RPI 2428
Alteração de dados cadastrais
#1.1
12/08/2015
RPI 2344
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