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SISTEMA E APARELHO PARA GRAVAÇÃO DE PARÂMETROS DE OPERAÇÃO DE UM DISPOSITIVO ELETRÔNICO INTELIGENTE, E, MÉTODO PARA MONITORAR UM DISPOSITIVO ELETRÔNICO INTELIGENTE.

Arquivada/ExtintaInvention PatentPCT · US2013067224

Application data

Number

112015009923

Type

Invention Patent

Filing

10/29/2013

Publication

12/12/2017

PCT

US2013067224

Progress at the INPI

  1. Filing10/29/13
  2. Publication12/12/17
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned for failure to pay the annuities (art. 86 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.

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Latest action published by the INPI: 08/17/2021. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

SCHWEITZER ENGINEERING LABORATORIES, INC

US

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Inventors

D. W. (pessoa física)

US

E. I. (pessoa física)

US

R. S. (pessoa física)

US

Technical data

IPC Classification

Priority claims

US

13/668737 · 11/05/2012

Abstract

SISTEMA E APARELHO PARA GRAVAÃÃO DE PARÃMETROS DE OPERAÃÃO DE UM DISPOSITIVO ELETRÃNICO INTELIGENTE, E, MÃTODO PARA MONITORAR UM DISPOSITIVO ELETRÃNICO INTELIGENTE. A presente descrição provê sistemas e métodos para gravação de parâmetros de operação de um dispositivo eletrônico inteligente (IED). Um sistema pode incluir um módulo de aquisição de parâmetro, um módulo de armazenamento de parâmetro e um módulo de gerenciamento de memória. O módulo de aquisição de parâmetro pode ser configurado para obter periodicamente parâmetros de operação de um IED em um primeiro intervalo. O primeiro intervalo pode ter uma primeira duração de tempo para prover uma primeira resolução de operação do IED. O módulo de armazenamento de parâmetro pode ser configurado para armazenar os parâmetros de operação. O môdulo de gerenciamento de memôria pode ser configurado para deletar, fora de um primeiro perÃodo de resolução, uma primeira parte dos parâmetros de operação ao mesmo tempo em que mantém uma segunda parte dos parâmetros de operação. A segunda parte pode incluir parâmetros de operação para cada um de um segundo intervalo. O segundo intervalo pode ter uma segunda duração de tempo para prover uma segunda resolução reduzida da operação do IED.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Adição na publicação

#15.35

08/17/2021

RPI 2641

Adição na publicação

#15.35

08/03/2021

RPI 2639

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Em virtude do arquivamento publicado na RPI 2454 de 16-01-2018 e considerando ausência de manifestação dentro dos prazos legais, informo que cabe ser mantido o arquivamento do pedido de patente, conforme o disposto no artigo 12, da resolução 113/2013.

05/08/2018

RPI 2470

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 4ª anuidade.

01/16/2018

RPI 2454

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

12/12/2017

RPI 2449

Alteração de dados cadastrais

#1.1

11/28/2017

RPI 2447

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