CARACTERIZAÇÃO DE ROCHAS E OUTRAS AMOSTRAS POR PROCESSO E SISTEMA PARA A PREPARAÇÃO DE AMOSTRAS USANDO MATERIAIS DE MONTAGEM REFRATÁRIOS

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RESUMOCARACTERIZAÇÃO DE ROCHAS E OUTRAS AMOSTRAS POR PROCESSO E SISTEMA PARA A PREPARAÇÃO DE AMOSTRAS USANDO MATERIAIS DE MONTAGEM REFRATÁRIOSÉ proporcionado um método para permitir a caracterização de rocha ou outros tipos de amostras, tais como tampões de núcleo extraídos para a análise, usando uma porção da amostra ou montagem que é preparado para ter uma amostra e, opcionalmente, uma pluralidade de objetos de referência fina discreta encapsulada por encapsulante endurecido, tais como materiais moldáveis de montagem que circunda os bordos periféricos da amostra e quaisquer objetos de referência. Sistemas para a realização dos métodos são também fornecidos. Um raio X da tira de varredura também é fornecido como uma única unidade que tem uma amostra discreta fina e uma pluralidade de objetos de referência fina discreta encapsulada por encapsulante endurecido que encerra os bordos periféricos dos objetos de referência e de amostra. A amostra de montagem pode ser posteriormente analisada por raios-X e por tomografia computadorizada, microscopia eletrônica de varredura (SEM) e combinado SEM e feixe de íons focado (FIB).