Concessão da patente
#16.1
20 (vinte) anos contados a partir de 11/10/2013, observadas as condições legais
05/19/2020
RPI 2576
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Official data from INPI
CIRCUITO INTEGRADO, APARELHO SENSÍVEL, E, MÉTODO DE MEDIÇÃO DE UM ANALITO DE INTERESSE EM UM MEIO
ConcedidaInvention PatentPCT · IB2013059296
Application data
Number
112015008211Type
Invention Patent
Filing
10/11/2013
Publication
07/04/2017
PCT
IB2013059296 Progress at the INPI
- Filing10/11/13
- Publication07/04/17
- Examination
- Allowance03/17/20
- Grant05/19/20
- In force10/11/33
The patent was granted on 05/19/2020 and is in force until 10/11/2033. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.
Protection valid until:10/11/2033
Latest action published by the INPI: 05/19/2020. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants and inventors
Applicants
KONINKLIJKE PHILIPS N.V.
NL
Inventors
B. M. (pessoa física)
NL
J. K. (pessoa física)
NL
M. M. (pessoa física)
NL
P. G. (pessoa física)
NL
Technical data
IPC Classification
Priority claims
US
61/714,400 · 10/16/2012
Abstract
RESUMO CIRCUITO INTEGRADO, APARELHO SENSÍVEL, E, MÉTODO DE MEDIÇÃO DE UM ANALITO DE INTERESSE EM UM MEIO Revela-se um circuito integrado (100) compreendendo um substrato semicondutor (110); uma camada de isolamento (120) sobre o dito substrato; um primeiro transistor (140a) sobre a dita camada de isolamento, o primeiro transistor compreendendo uma região de canal funcionalizado exposta (146a) entre uma região de origem (142a) e uma região de drenagem (144) para percepção de um analito em um meio; um segundo transistor (140b) sobre a dita camada de isolamento, o segundo transistor compreendendo uma região de canal exposta (146b) entre uma região de origem (142b) e uma região de drenagem (144) para percepção de um potencial do dito meio; e um gerador de influência de tensão (150) acoplado de maneira condutora ao substrato semicondutor para prover uma tensão de influência aos ditos transistores, o dito gerador de influência de tensão sendo responsivo ao segundo transistor. Aparelho sensível compreendendo tal CI e um método de medição de analito utilizando tal CI também são revelados.1/1
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
Deferimento
#9.1
03/17/2020
RPI 2567
Exigência preliminar
#6.21
11/05/2019
RPI 2548
Notificação de acesso ao patrimônio genético
#6.6.1
11/21/2018
RPI 2498
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
Publicação automática da admissibilidade da fase nacional depositado via PCT . Tratado de cooperação em matéria de Patentes, conforme Instrução Normativa nº 02, de 06/06/2017 publicada na RPI nº 2422, de 06/06/2017.
07/04/2017
RPI 2426
Alteração de dados cadastrais
#1.1
04/28/2015
RPI 2312
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