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ESPECTRÔMETRO ÓPTICO, E MÉTODO PARA CONTROLAR O AJUSTE DE UM ESPAÇO DE AMOSTRAGEM AJUSTÁVEL EM UM ESPECTRÔMETRO ÓPTICO

Arquivada/ExtintaInvention PatentPCT · EP2012059883

Application data

Number

112014029064

Type

Invention Patent

Filing

05/25/2012

Publication

06/27/2017

PCT

EP2012059883

Progress at the INPI

  1. Filing05/25/12
  2. Publication06/27/17
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned for failure to pay the annuities (art. 86 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.

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Latest action published by the INPI: 10/31/2017. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

Foss Analytical A/S

DK

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Inventors

B. M. (pessoa física)

DK

M. A. (pessoa física)

DK

M. V. (pessoa física)

DK

T. N. (pessoa física)

DK

Technical data

Abstract

RESUMO ESPECTRÔMETRO ÓPTICO, E MÉTODO PARA CONTROLAR O AJUSTE DE UM ESPAÇO DE AMOSTRAGEM AJUSTÁVEL EM UM ESPECTRÔMETRO ÓPTICO Trata-se de espectrômetro óptico (102) que compreende um espaço de amostragem ajustável (104) que tem duas paredes laterais geralmente opostas e relativamente móveis (106, 108) que na presente invenção são formadas substancialmente de material opticamente translúcido e entre as quais, em uso, uma amostra para análise é carregada e um atuador (116) acoplado mecanicamente, na presente, através de um parafuso sem-fim (118), a uma ou ambas das paredes laterais opostas (108) e operáveis em resposta a um sinal de comando aplicado às mesmas para efetuar seu movimento relativo. O espectrômetro (102) compreende adicionalmente um sensor óptico de posição (110, 112, 114), adaptado para detectar franjas de interferência geradas por energia óptica que atravessam a distância entre as paredes laterais (106, 108) uma pluralidade de vezes e para gerar o sinal de comando dependente do mesmo, e, preferencialmente, também adaptado para gerar uma intensidade de indexação de saída contra uma indexação de comprimento de onda utilizável na análise espectrométrica de um material de amostra dentro do espaço de amostragem (104).1/1

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Em virtude do arquivamento publicado na RPI 2427 de 11-07-2017 e considerando ausência de manifestação dentro dos prazos legais, informo que cabe ser mantido o arquivamento do pedido de patente, conforme o disposto no artigo 12, da resolução 113/2013.

10/31/2017

RPI 2443

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente às 4ª e 5ª anuidades.

07/11/2017

RPI 2427

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

Publicação automática da admissibilidade da fase nacional depositado via PCT . Tratado de cooperação em matéria de Patentes, conforme Instrução Normativa nº 02, de 06/06/2017 publicada na RPI nº 2422, de 06/06/2017.

06/27/2017

RPI 2425

Alteração de dados cadastrais

#1.1

03/24/2015

RPI 2307

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