MÉTODO PARA CLASSIFICAÇÃO DE UMA AMOSTRA EM UMA DE PELO MENOS DUAS CLASSES COM BASE EM DADOS ESPECTRAIS, MÉTODO PARA CRIAR UM BANCO DE DADOS PARA USO NA CLASSIFICAÇÃO DE UMA AMOSTRA EM UMA DE PELO MENOS DUAS CLASSES COM BASE EM DADOS ESPECTRAIS, PROGRAMA DE COMPUTADOR, MEIO DE ARMAZENAGEM DE DADOS, E SISTEMA PARA CLASSIFICAR UMA AMOSTRA COM BASE EM DADOS ESPECTRAIS

IPC Classification

Priority claims

Abstract

MÉTODO PARA CLASSIFICAÇÃO DE UMA AMOSTRA EM UMA DE PELO MENOS DUAS CLASSES COM BASE EM DADOS ESPECTRAIS, MÉTODO PARA CRIAR UM BANCO DE DADOS PARA USO NA CLASSIFICAÇÃO DE UMA AMOSTRA EM UMA DE PELO MENOS DUAS CLASSES COM BASE EM DADOS ESPECTRAIS, MEIO DE ARMAZENAGEM DE DADOS, E SISTEMA PARA CLASSIFICAR UM A AMOSTRA COM BASE EM DADOS ESPECTRAIS. A invenção se refere a um método para classificação de uma amostra com base em dados espectrais, um método para criar um banco de dados e um método para utilizar esse banco de dados, e programa de computador correspondente, meio de armazenagem de dados e sistema. O método compreende: a) obter pelo menos dois conjuntos de primeiros espectros para uso como espectros de referência, cada conjunto compreendendo espectros de amostras de referência que pertencem à mesma classe; b) determinar para cada dos espectros de referência o valor da mesma pelo menos uma quantidade relacionada a uma característica espectral; c) associar uma probabilidade a valores diferentes da quantidade com base nos valores determinados; d) obter um espectro a partir da amostra e determinar o valor da mesma pelo menos uma quantidade desse espectro; e e) calcular com base nas probabilidades e o valor da quantidade para o espectro obtido para cada de pelo menos duas classes uma probabilidade que a amostra pertence àquela classe.