(11) 98705-3426
TrademarkIQ iconTrademarkIQ
Back to search
Official data from INPI

MÉTODO DE COMPENSAÇÃO DE DESVIO DE AMPLITUDE EM UM ESPECTRÔMETRO QUE GERA DADOS ESPECTRAIS ÓPTICOS A PARTIR DE UMA AMOSTRA DESCONHECIDA EM UM SUPORTE DE AMOSTRA E INSTRUMENTO DE ESPECTROMETRIA

ConcedidaInvention PatentPCT · EP2011064302 Official document available

Application data

Number

112014003573

Type

Invention Patent

Filing

08/19/2011

Publication

03/14/2017

PCT

EP2011064302

Patent grant document available

We have the complete official document for this filing, as published by INPI.

Access the document

Progress at the INPI

  1. Filing08/19/11
  2. Publication03/14/17
  3. Examination
  4. Allowance03/10/20
  5. Grant03/24/20
  6. In force08/19/31

The patent was granted on 03/24/2020 and is in force until 08/19/2031. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:08/19/2031

Leave your contact and we will alert you

We track INPI publications and let you know as soon as this case moves.

We use your details only for this alert.

Latest action published by the INPI: 03/24/2020. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

FOSS ANALYTICAL A/S

DK

See this company's full portfolio

Inventors

H. J. (pessoa física)

DK

Technical data

IPC Classification

Abstract

RESUMO MÉTODO DE COMPENSAÇÃO DE DESVIO DE AMPLITUDE EM UM ESPECTRÔMETRO QUE GERA DADOS ESPECTRAIS ÓPTICOS A PARTIR DE UMA AMOSTRA DESCONHECIDA EM UM SUPORTE DE AMOSTRA E INSTRUMENTO DE ESPECTROMETRIA Trata-se de um método de compensação de desvio de amplitude em um espectrômetro que compreende: fazer desempenhos sucessivos de um processo de padronização para gerar, em cada desempenho, uma transformada matemática para compensar o desvio de amplitude para a aplicação por uma unidade aritmética para um espectro obtido pelo espectrômetro em um intervalo entre os desempenhos; modificar a transformada matemática com uma função dependente em dados espectrais a partir de um material zero medido em associação com o processo de padronização e o espectro zero de feixe único medido em um intervalo entre os desempenhos; e aplicar a transformada matemática modificada a um espectro a partir de uma amostra desconhecida.1/1

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 19/08/2011, observadas as condições legais

03/24/2020

RPI 2568

Deferimento

#9.1

03/10/2020

RPI 2566

Exigência preliminar

#6.21

08/13/2019

RPI 2536

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

12/26/2018

RPI 2503

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

03/14/2017

RPI 2410

Alteração de dados cadastrais

#1.1

05/20/2014

RPI 2263

Related

Same category

Patent monitoring

Track this patent in real time.

Receive alerts on INPI events, decisions, and expiry dates for your portfolio.