SISTEMA PARA MONITORAR UMA MICROESTRUTURA DE UM ALVO METÁLICO, PROCESSO DE PRODUÇÃO CONTENDO ESSE SISTEMA E MÉTODO PARA MONITORAR UMA MICROESTRUTURA DE UM ALVO METÁLICO

IPC Classification

Priority claims

Abstract

ABSTRACTEmbodiments of the present invention provide an electromagnetic sensor (400) for detecting a microstructure of a metal target, comprising: a magnetic device (410, 420) for providing an excitation magnetic field; a magnetometer (430) for detecting a resultant magnetic field induced in a metal target; and a calibration circuit (450, 551, 552, 553, 554) for generating a calibration magnetic field for calibrating the electromagnetic sensor, wherein the calibration reference magnetic field is generated by an electrical current induced in the calibration circuit by the excitation magnetic field.***************************************************TRADUÇÃO DO RESUMORESUMOPatente de Invenção: "APRIMORAMENTOS EM SENSORES". Modalidades da presente invenção fornecem um sensor eletromagnético (400) para detectar uma microestrutura de um alvo metálico que compreende: um dispositivo magnético (410, 420) para fornecer um campo magnético de excitação; um magnetômetro (430) para detectar um campo magnético resultante induzido em um alvo metálico; e um circuito de calibração (450, 551, 552, 553, 554) para gerar um campo magnético de calibração para calibrar o sensor eletromagnético, em que o campo magnético de referência de calibração é gerado por uma corrente elétrica induzida no circuito de calibração pelo campo magnético de excitação.1/1