Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI
#11.1.1
05/30/2017
RPI 2421
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Official data from INPI
SISTEMA E MÉTODO PARA DETECTAR E REPARAR UM DEFEITO EM UM DISPOSITIVO ELETROCRÔMICO
ArquivadaInvention PatentPCT · US2012031182
Application data
Number
112013024613Type
Invention Patent
Filing
03/29/2012
Publication
12/27/2016
PCT
US2012031182 Progress at the INPI
- Filing03/29/12
- Publication12/27/16
- Abandoned
- Allowance
- Grant
- In force
The application was abandoned: examination was not requested within the 36 months following the 03/29/2012 filing, the deadline set by art. 33 of the Brazilian IP Act. The technology is in the public domain in Brazil.
Talk to a specialistLatest action published by the INPI: 05/30/2017. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants and inventors
Applicants
SAGE ELECTROCHROMICS, INC.
US
Inventors
J. G. (pessoa física)
US
J. R. (pessoa física)
DE
K. W. (pessoa física)
DE
O. S. (pessoa física)
FR
P. L. (pessoa física)
BE
S. P. (pessoa física)
US
Technical data
IPC Classification
Priority claims
US
61/470083 · 03/31/2011
Abstract
SISTEMA E MÉTODO PARA DETECTAR E REPARAR UM DEFEITO EM UM DISPOSITIVO ELETROCRÔMICO São descritos sistema (1) e método (100) para detectar e reparar um defeito em um dispositivo eletrocrômico (30) que pode incluir adquirir uma imagem térmica do dispositivo eletrocrômico (30) quando o dispositivo está em um estado operacional. Além do mais, o sistema e método podem incluir processar dados de formação de imagem térmica representativos da imagem térmica para detectar um defeito no dispositivo eletrocrômico, comparando a amplitude térmica detectada em um ou mais pixels da imagem térmica com um valor predeterminado, e determinar uma localização do dispositivo eletrocrômico correspondente ao defeito detectado.
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
03/14/2017
RPI 2410
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
12/27/2016
RPI 2399
Alteração de dados cadastrais
#1.1
01/07/2014
RPI 2244
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