Application data
Number
112013017419Type
Filing
Publication
PCT
US2011067771 The patent was granted on 03/16/2021 and later terminated. Protection ended before the full term and the technology is in the public domain in Brazil.
Talk to a specialistLatest action published by the INPI: 03/03/2026. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants
P. F. (pessoa física)
US
Inventors
G. L. (pessoa física)
US
R. C. (pessoa física)
US
X. L. (pessoa física)
US
Z. O. (pessoa física)
US
IPC Classification
Priority claims
US
61/430,021 · 01/05/2011
Abstract
SISTEMAS E MÉTODOS PARA ANÁLISE DE AMOSTRAS A presente invenção refere-se, em geral, a sistemas e a métodos para análise de amostras. Em determinadas modalidades, a invenção proporciona um sistema para analisar uma amostra que inclui uma sonda incluindo um material conectado a uma fonte de alta tensão, um dispositivo para geração de um gás aquecido, e um analisador de massa.
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
#24.10
Em virtude da extinção publicada na RPI 2861 de 04-11-2025 e considerando ausência de manifestação dentro dos prazos legais, informo que cabe ser mantida a extinção da patente e seus certificados, conforme o disposto no artigo 12, da resolução 113/2013.
03/03/2026
RPI 2878
#21.6
Referente à 14ª anuidade.
11/04/2025
RPI 2861
#16.1
20 (vinte) anos contados a partir de 29/12/2011, observadas as condições legais
03/16/2021
RPI 2619
#9.1
01/19/2021
RPI 2611
#6.21
02/18/2020
RPI 2563
#6.6.1
02/11/2020
RPI 2562
#1.3
01/28/2020
RPI 2560
#1.5
Apresente documento de cessão da prioridade reivindicada em que conste menção expressa ao seu número.
11/12/2019
RPI 2549
#1.1
01/07/2014
RPI 2244
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