Invention Patent SISTEMAS E MÉTODOS PARA MEDIÇÃO DE ANALITO DE PRECISÃO ALTA de CILAG GMBH INTERNATIONAL — IPC G01N 33/48. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.
The application was abandoned: the INPI technical office action was not answered in time (art. 36 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.
SISTEMAS E MÉTODOS PARA MEDIÇÃO DE ANALITO DE PRECISÃO ALTA. Trata-se de métodos para determinar uma concentração de um analito em uma amostra, e os dispositivos e sistemas usados em conjunto com o mesmo, que são fornecidos no presente documento. Em uma modalidade exemplificativa de um método para determinar uma concentração de um analito em uma amostra, uma amostra que inclui um analito é fornecida em uma amostra que analisa um dispositivo que tem um contraeletrodo e um eletrodo de trabalho. Um potencial elétrico é aplicado entre os eletrodos e uma primeira concentração de analito é determinada. Um segundo valor de concentração de analito é calculado a partir do primeiro valor de concentração de analito e corrigido para efeitos de temperatura, tendo de preenchimento e capacitância para fornecer um valor de concentração de analito final.
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
